[发明专利]一种芯片烧录测试设备

权利要求书

1.一种芯片烧录测试设备，其特征在于，包括：

控制台（1）；

放置机构（2），所述控制台（1）上安装有放置机构（2）；

固定机构（6），所述控制台（1）底部安装有固定机构（6），所述固定机构（6）包括吸盘（603），所述控制台（1）四角内部分别安装有吸盘（603），所述吸盘（603）通过按压弹簧（604）与控制台（1）内部滑动连接，所述吸盘（603）底部延伸至控制台（1）外侧，所述吸盘（603）内部中心处设有导流槽（605），所述控制台（1）四角分别垂直螺纹连接有螺杆（601），所述螺杆（601）底部转动连接有橡胶柱（602），所述橡胶柱（602）与控制台（1）内部滑动连接，所述橡胶柱（602）底部位于吸盘（603）顶部，所述橡胶柱（602）底部直径小于吸盘（603）顶部直径；

闭锁机构（8），所述控制台（1）内部安装有闭锁机构（8）；

所述放置机构（2）包括底座（201），所述控制台（1）上可拆卸连接有底座（201），所述底座（201）顶部安装有转盘（202），所述转盘（202）顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽（203）；

所述放置机构（2）上安装有抵触机构（3），所述抵触机构（3）包括立柱（301），所述底座（201）一侧可拆卸连接有立柱（301），所述立柱（301）为“7”字形结构，所述立柱（301）延伸至转盘（202）顶部，所述立柱（301）顶部一端位于放置槽（203）顶部，所述立柱（301）顶部一端内侧安装有连接块（302），所述连接块（302）通过活动弹簧（303）与立柱（301）内部滑动连接，所述连接块（302）底部延伸至立柱（301）外侧，所述连接块（302）底部转动连接有压轮（304），所述压轮（304）位于放置槽（203）顶部；

多个所述放置槽（203）内部中心处分别设有顶套（305），所述顶套（305）内部安装有压缩弹簧（306），所述顶套（305）底部通过压缩弹簧（306）与转盘（202）内部滑动连接；

所述放置机构（2）内部安装有连接机构（4），所述连接机构（4）包括连通槽（401），所述转盘（202）边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽（401），所述连通槽（401）顶部延伸至放置槽（203）顶部，所述连通槽（401）底部延伸至转盘（202）底部外侧，所述底座（201）边缘处内部安装有集成板（403），所述集成板（403）通过复位弹簧（407）与底座（201）内部纵向滑动连接，所述集成板（403）顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板（402），多个所述金属板（402）位于多个连通槽（401）底部，所述底座（201）内部滑动连接有控制板（404），所述集成板（403）与控制板（404）之间连接有两个缓冲弹簧（406），所述集成板（403）底部垂直连接有两个导杆（405），所述导杆（405）贯穿于缓冲弹簧（406）与控制板（404）内部滑动连接，所述底座（201）内部边缘处可拆卸连接有气缸（408），所述气缸（408）输出轴延伸至底座（201）内部与控制板（404）连接；

所述抵触机构（3）上连接有散热机构（5），所述散热机构（5）包括连接管（501），所述立柱（301）一侧连接有连接管（501），所述立柱（301）顶部内侧设有导槽（503），所述导槽（503）两端延伸至立柱（301）外侧，所述连接管（501）延伸至导槽（503）一端内部，所述导槽（503）另一端连接有进气管（502），所述底座（201）内部设有导气槽（506），所述导气槽（506）一端延伸至集成板（403）一侧，所述连接管（501）另一端延伸至导气槽（506）另一端内部，所述立柱（301）内部滑动连接有皮塞（504），所述皮塞（504）为长方形结构，所述皮塞（504）顶部延伸至导槽（503）内部，所述皮塞（504）上设有通槽（505），所述皮塞（504）底部贯穿于活动弹簧（303）与连接块（302）顶部垂直固定连接。