[发明专利]一种芯片烧录测试设备

说明书

本发明涉及芯片烧录检测技术领域，具体的说是一种芯片烧录测试设备，包括控制台；固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构；通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。

技术领域

本发明涉及芯片烧录检测技术领域，具体的说是一种芯片烧录测试设备。

背景技术

随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能。

然而，目前在对芯片烧录检测时，大部分都是将芯片单个进行放置在夹具上烧录，来回操作耗时耗力，拆卸繁琐，降低了整体的工作效率，并且夹具只能对一个种类的芯片进行放置，当需要更换芯片时需要更换夹具，十分不方便，并且在烧录过程中不方便很好的对芯片散热防护，从而影响芯片烧录的质量，同时在芯片烧录时，操作夹具是直接放置在台面，操作夹具稳定性差容易松动，缺乏固定组件，从而影响正常的芯片安装，并稍有不慎容易造成线路接触不良，影响芯片的烧录检测工作。

发明内容

针对现有技术中的问题，本发明提供了一种芯片烧录测试设备。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片烧录测试设备，包括：

控制台；

放置机构，所述控制台上安装有放置机构；

固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；

闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构。

具体的，所述放置机构包括底座，所述控制台上可拆卸连接有底座，所述底座顶部安装有转盘，所述转盘顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽，所述底座底部内侧中心处可拆卸连接有电机，所述底座顶部中心处转动连接有驱动盘，所述电机输出轴与驱动盘底部连接，所述驱动盘顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣，所述转盘底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽，所述卡扣与卡槽内部卡合，所述转盘通过驱动盘与底座顶部转动连接，所述卡槽和卡扣均为“L”形结构。

具体的，所述底座顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块，所述凸块底部通过抵触弹簧与底座内部滑动连接，所述凸块顶部为半圆形结构，所述转盘底部设有多个呈环形分布的凹槽，所述凸块顶部与凹槽内部抵触。

具体的，所述放置机构上安装有抵触机构，所述抵触机构包括立柱，所述底座一侧可拆卸连接有立柱，所述立柱为“7”字形结构，所述立柱延伸至转盘顶部，所述立柱顶部一端位于放置槽顶部，所述立柱顶部一端内侧安装有连接块，所述连接块通过活动弹簧与立柱内部滑动连接，所述连接块底部延伸至立柱外侧，所述连接块底部转动连接有压轮，所述压轮位于放置槽顶部。

具体的，多个所述放置槽内部中心处分别设有顶套，所述顶套内部安装有压缩弹簧，所述顶套底部通过压缩弹簧与转盘内部滑动连接。