[发明专利]一种内存信号的校准方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 202310677677.8 | 申请日: | 2023-06-08 |
公开(公告)号: | CN116665746A | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 金霞;王晓;刘波;李婷婷 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G11C29/18 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 熊飞雪 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 内存 信号 校准 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种内存信号的校准方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待校准信号处于预设时钟周期内的第一数量个采样点和采集每个采样点的第一时间间隔,其中,所述第一时间间隔是由所述预设时钟周期和所述第一数量个采样点确定的;
根据预设步长在所述第一数量个采样点中选择第二数量个目标采样点,并采集每个所述目标采样点的第二时间间隔,其中,所述第二时间间隔是根据所述第一时间间隔和所述预设步长确定的;
根据各个所述目标采样点的电平有效性,获取在连续第三数量个目标采样点的电平有效性为预设值的情况下,对所述待校准信号进行校准时的第一延迟周期,其中,所述第一延迟周期是根据所述第二时间间隔和所述第三数量得到的;
在第一目标采样点和第二目标采样点的电平有效性出现跳变的情况下,根据所述第一目标采样点和所述第二目标采样点之间所述采样点的电平有效性,获取在连续第四数量个采样点的电平有效性为所述预设值的情况下,对所述待校准信号进行校准时的第二延迟周期,其中,所述第一目标采样点和所述第二目标采样点为任意两两相邻目标采样点,所述第二延迟周期是根据所述第一时间间隔和所述第四数量得到的;
根据所述第一延迟周期和所述第二延迟周期,校准所述待校准信号,得到校准结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一延迟周期和所述第二延迟周期,校准所述待校准信号,得到校准结果,包括:
根据所述第一延迟周期和所述第二延迟周期,确定对所述待校准信号进行校准时的总延迟周期;
对所述待校准信号延迟所述总延迟周期,得到校准结果。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述待校准信号为组合信号时,在所述根据各个所述目标采样点的电平有效性,获取在连续第三数量个目标采样点的电平有效性为预设值的情况下,对所述待校准信号进行校准时的第一延迟周期之前,所述方法还包括:
获取在第一子信号上,所述目标采样点的第一电平有效性,在第二子信号上,所述目标采样点的第二电平有效性,其中,所述第一子信号和所述第二子信号包含于所述待校准信号;
根据所述目标采样点的所述第一电平有效性,获取第一电平有效性为所述预设值的连续第五数量个目标采样点;
根据所述目标采样点的所述第二电平有效性,获取第二电平有效性为所述预设值的连续第六数量个目标采样点;
根据所述第五数量个目标采样点和所述第六数量个目标采样点,确定步进值;
将所述第一子信号相对于所述第二子信号增加所述步进值,得到调整后的第五数量个目标采样点;
将所述调整后的第五数量个目标采样点和所述第六数量个目标采样点取交集,得到所述第三数量个目标采样点。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在第一目标采样点和第二目标采样点的电平有效性出现跳变的情况下,根据所述第一目标采样点和所述第二目标采样点之间所述采样点的电平有效性,获取在连续第四数量个采样点的电平有效性为所述预设值的情况下,对所述待校准信号进行校准时的第二延迟周期,包括:
获取在第一子信号上,所述第一目标采样点和所述第二目标采样点之间所述采样点的第三电平有效性,在第二子信号上,所述第一目标采样点和所述第二目标采样点之间所述采样点的第四电平有效性;
比较所述第三电平有效性和所述第四电平有效性,得到电平有效性为所述预设值的连续第四数量个采样点;
根据所述第一时间间隔和所述第四数量,得到所述第二延迟周期。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述比较所述第三电平有效性和所述第四电平有效性,得到电平有效性为所述预设值的连续第四数量个采样点,包括:
在所述第三电平有效性和所述第四电平有效性均为所述预设值的情况下,得到所述第四数量个采样点。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述第五数量个目标采样点和所述第六数量个目标采样点,确定步进值,包括:
确定所述目标采样点的序号;
将所述第五数量个目标采样点中第一个目标采样点和所述第六数量个目标采样点中第一个目标采样点的序号差值,作为所述步进值。
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