[发明专利]显示屏模组的参数处理方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202310744806.0 申请日: 2023-06-25
公开(公告)号: CN116484269B 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: 倪正华 申请(专利权)人: 深圳市彤兴电子有限公司
主分类号: G06F18/24 分类号: G06F18/24;G06N3/044;G06F16/242;G06F18/22;G06F18/243;G06F18/25
代理公司: 深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙) 44850 代理人: 刘临利
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 显示屏 模组 参数 处理 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种显示屏模组的参数处理方法,其特征在于,所述显示屏模组的参数处理方法包括:

获取目标显示屏的显示屏模组参数数据,并将所述显示屏模组参数数据输入预置的参数特征分类模型进行参数数据特征分类,得到特征参数集合,其中,所述特征参数集合包括:多个特征参数数据;

对所述多个特征参数数据进行特征相关性分析,得到每两个特征参数数据对应的至少一个参数相关性评价指标,具体包括:分别对所述多个特征参数数据进行参数离散化处理,得到每个特征参数数据对应的多个离散特征值;构建每个特征参数数据对应的多个离散特征值的概率分布图,得到每个特征参数数据对应的目标概率分布图;根据每个特征参数数据对应的目标概率分布图,计算每两个特征参数数据对应的至少一个相关系数,并将所述至少一个相关系数作为每两个特征参数数据对应的至少一个参数相关性评价指标;

根据所述至少一个参数相关性评价指标构建每两个特征参数数据对应的目标参数特征分析模型,并获取每个特征参数数据对应的标准参数数据,具体包括:对所述至少一个参数相关性评价指标进行特征转换,得到至少一个参数转换值;构建所述至少一个参数转换值与参数特征分析模型之间的映射关系;根据所述映射关系,分别对每两个特征参数数据进行参数特征分析模型映射匹配,得到目标参数特征分析模型;从预置的参数数据库中匹配每个特征参数数据对应的标准参数数据;

分别将所述标准参数数据和所述多个特征参数数据输入所述目标参数特征分析模型进行性能求解,得到多个性能求解值,具体包括:对所述标准参数数据和对应的特征参数数据进行数据匹配,得到多个参数对;对所述多个参数对进行向量转换,得到每个参数特征数据对应的目标参数向量,并分别将每个参数特征数据对应的目标参数向量输入所述目标参数特征分析模型,其中,所述目标参数特征分析模型包括:双层门限循环网络、全连接网络以及预测层;通过所述目标参数特征分析模型,分别对每个参数特征数据对应的目标参数向量进行性能求解运算,得到对应的多个性能求解值;

根据所述多个性能求解值,对所述多个特征参数数据进行最优运行参数分析,得到所述目标显示屏对应的目标最优运行参数。

2.根据权利要求1所述的显示屏模组的参数处理方法,其特征在于,所述获取目标显示屏的显示屏模组参数数据,并将所述显示屏模组参数数据输入预置的参数特征分类模型进行参数数据特征分类,得到特征参数集合,其中,所述特征参数集合包括:多个特征参数数据,包括:

获取目标显示屏的初始模组参数数据,并对所述初始模组参数数据进行参数预处理,得到显示屏模组参数数据;

对所述显示屏模组参数数据进行数据量和数据结构分析,得到目标数据量以及数据结构信息;

根据所述目标数据量以及所述数据结构信息,通过预置的参数特征分类模型对所述显示屏模组参数数据进行参数数据特征分类,得到特征参数集合,其中,所述特征参数集合包括:多个特征参数数据,所述多个特征参数数据包括:亮度特征参数、色温特征参数以及对比度特征参数。

3.根据权利要求1所述的显示屏模组的参数处理方法,其特征在于,所述根据所述多个性能求解值,对所述多个特征参数数据进行最优运行参数分析,得到所述目标显示屏对应的目标最优运行参数,包括:

根据所述多个性能求解值,对所述多个特征参数数据进行性能指标分类,得到待优化的第一特征参数数据以及待搜索的第二特征参数数据;

对所述第一特征参数数据进行优化,得到优化后的第一特征参数数据;

根据所述优化后的第一特征参数数据以及所述第二特征参数数据,通过预置的最优化模型在特征参数空间中搜索最优的运行参数组合,得到所述目标显示屏对应的目标最优运行参数。

4.根据权利要求1所述的显示屏模组的参数处理方法,其特征在于,所述显示屏模组的参数处理方法还包括:

根据所述目标最优运行参数,对所述目标显示屏进行运行参数调整,并实时采集所述目标显示屏的运行状态数据;

对所述运行状态数据和所述目标最优运行参数进行异常监控,得到异常监控结果。

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