[发明专利]一种碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，包括测试台(1)，其特征在于：所述测试台(1)的顶部安装有测试板(2)，所述测试板(2)的内部设置有测试机构(3)；

所述测试机构(3)中包括转动安装在测试板(2)内部的支撑转轴(31)，所述支撑转轴(31)的表面固定连接有棘轮(32)，且支撑转轴(31)的表面且位于棘轮(32)的上方固定安装有抵动板(33)，所述棘轮(32)通过气动间歇组件(34)实现棘轮(32)和支撑转轴(31)的转动操作，所述测试板(2)的内部贯穿滑动有相对称的移动板(36)，所述移动板(36)的表面通过复位组件(35)实现水平的移动操作，所述移动板(36)的顶部固定连接有安装板(37)，左侧所述安装板(37)的表面固定连接有测试杆(38)，所述测试杆(38)的一端固定连接有温度传感器(39)，右侧所述安装板(37)的表面固定连接有电性杆(310)。

2.根据权利要求1所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，其特征在于：所述温度传感器(39)用于插入至碳化硅开关器件的内部进行温度感应采集，所述电性杆(310)用于与碳化硅开关器件的电性端连接并实现碳化硅开关器件的使用升温操作。

3.根据权利要求2所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，其特征在于：所述安装板(37)的顶部固定连接有半圆罩(4)，且两个半圆罩(4)接触时将测试板(2)完全盖住。

4.根据权利要求3所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，其特征在于：所述气动间歇组件(34)中包括控制气缸(34-1)，所述控制气缸(34-1)的内部滑动连接有活塞杆(34-2)，所述控制气缸(34-1)和活塞杆(34-2)的互相远离端均固定安装有推动块(34-3)，所述测试板(2)的内部转动安装有转动块(34-4)和支撑杆(34-5)。

5.根据权利要求4所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，其特征在于：所述支撑杆(34-5)的顶端固定连接有转动杆(34-6)，所述推动块(34-3)的表面与转动杆(34-6)和转动块(34-4)的内部通过转动销转动连接，所述转动杆(34-6)的一侧固定连接有棘齿(34-7)，且棘齿(34-7)与棘轮(32)的表面接触。

6.根据权利要求5所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，其特征在于：所述复位组件(35)中包括固定安装在两个移动板(36)相对侧的固定板(35-1)，所述固定板(35-1)的互相远离侧固定连接有贯穿杆(35-2)，所述贯穿杆(35-2)的表面与测试板(2)的表面贯穿滑动，所述贯穿杆(35-2)的表面套设有复位弹簧(35-3)，所述复位弹簧(35-3)的两端与固定板(35-1)和测试板(2)内腔的相对侧固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置，其特征在于：所述温度传感器(39)和控制气缸(34-1)通过控制系统电性控制，所述控制系统中包括计算机控制终端和温度对比单元，所述计算机控制终端的输出端与控制气缸(34-1)的输入端连接，且温度传感器(39)和计算机控制终端之间实现双向连接，所述计算机控制终端的输出端与温度对比单元的输入端连接。

8.实施如权利要求7所述的一种碳化硅开关器件散热性能测试装置的测试方法，其特征在于：具体包括以下步骤：

S1、首先将碳化硅开关器件放置在测试板(2)上，此时通过控制系统中的计算机控制终端控制控制气缸(34-1)启动进行操作；

S2、控制气缸(34-1)的启动使得活塞杆(34-2)进行移动，并使得推动块(34-3)的移动带动转动杆(34-6)的转动，此时转动杆(34-6)以支撑杆(34-5)为中心进行转动，并带动了棘齿(34-7)的转动使得棘轮(32)和支撑转轴(31)的转动操作，并带动了抵动板(33)的转动，而此时与之接触的固定板(35-1)在复位弹簧(35-3)的弹性复位下使得移动板(36)进行移动，并且带动了测试杆(38)和电性杆(310)与碳化硅开关器件接触；

S3、此时温度传感器(39)对碳化硅开关器件的内部温度进行检测，然后将检测的温度与温度对比单元中数据中的温度进行对比，当检测的温度大于数据库的温度时，则碳化硅开关器件散热性不符合要求，反之则属于正常产品件。