[发明专利]一种碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法在审
申请号: | 202310756901.2 | 申请日: | 2023-06-26 |
公开(公告)号: | CN116642924A | 公开(公告)日: | 2023-08-25 |
发明(设计)人: | 程美红;徐真;刘承灯;郭静 | 申请(专利权)人: | 湖北德普电气股份有限公司 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 北京深川专利代理事务所(普通合伙) 16058 | 代理人: | 祁文鹏 |
地址: | 441000 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 开关 器件 散热 性能 测试 装置 及其 方法 | ||
本发明公开了一种碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法,包括测试台,所述测试台的顶部安装有测试板,测试板的内部设置有测试机构,测试机构中包括转动安装在测试板内部的支撑转轴,支撑转轴的表面固定连接有棘轮,支撑转轴的表面且位于棘轮的上方固定安装有抵动板,本发明涉及碳化硅开关器件测试技术领域。该碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法,通过设置有测试机构,利用气动间歇组件的驱动操作使得棘齿带动棘轮的转动,从而使得移动板在复位弹簧的弹性复位下实现移动,并且带动了测试杆和电性杆与碳化硅开关器件接触,以此实现了碳化硅开关器件散热性能的测试操作,并且使得测试的过程更加的稳定便捷。
技术领域
本发明涉及碳化硅开关器件测试技术领域,具体为一种碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法。
背景技术
碳化硅开关器件为宽禁带技术,相比于经典的硅开关器件,碳化硅开关器件具有低通态电阻和高热导率的特点,这些特点有助于提高最终应用电路的能效和工作温度。因此碳化硅开关器件的开发技术开始逐渐得到发展,在设计碳化硅开关器件的过程中,需要对设计产品进行测试,因而会使用到专门针对碳化硅开关器件的测试平台。
现有的碳化硅开关器件在制作完成后,需要对该开关器件进行测试的操作,而在进行测试的过程中往往无法知晓该开关器件的散热效果,为此,本发明提供了一种碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供了一种碳化硅开关器件散热性能测试装置及其测试方法,解决了现有的碳化硅开关器件在制作完成后,需要对该开关器件进行测试的操作,而在进行测试的过程中往往无法知晓该开关器件的散热效果的问题。
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种碳化硅开关器件散热性能测试装置,包括测试台,所述测试台的顶部安装有测试板,所述测试板的内部设置有测试机构,所述测试机构中包括转动安装在测试板内部的支撑转轴,所述支撑转轴的表面固定连接有棘轮,且支撑转轴的表面且位于棘轮的上方固定安装有抵动板,所述棘轮通过气动间歇组件实现棘轮和支撑转轴的转动操作,所述测试板的内部贯穿滑动有相对称的移动板,所述移动板的表面通过复位组件实现水平的移动操作,所述移动板的顶部固定连接有安装板,左侧所述安装板的表面固定连接有测试杆,所述测试杆的一端固定连接有温度传感器,右侧所述安装板的表面固定连接有电性杆。
优选的,所述温度传感器用于插入至碳化硅开关器件的内部进行温度感应采集,所述电性杆用于与碳化硅开关器件的电性端连接并实现碳化硅开关器件的使用升温操作。
优选的,所述安装板的顶部固定连接有半圆罩,且两个半圆罩接触时将测试板完全盖住。
优选的,所述气动间歇组件中包括控制气缸,所述控制气缸的内部滑动连接有活塞杆,所述控制气缸和活塞杆的互相远离端均固定安装有推动块,所述测试板的内部转动安装有转动块和支撑杆。
优选的,所述支撑杆的顶端固定连接有转动杆,所述推动块的表面与转动杆和转动块的内部通过转动销转动连接,所述转动杆的一侧固定连接有棘齿,且棘齿与棘轮的表面接触。
优选的,所述复位组件中包括固定安装在两个移动板相对侧的固定板,所述固定板的互相远离侧固定连接有贯穿杆,所述贯穿杆的表面与测试板的表面贯穿滑动,所述贯穿杆的表面套设有复位弹簧,所述复位弹簧的两端与固定板和测试板内腔的相对侧固定连接。
优选的,所述温度传感器和控制气缸通过控制系统电性控制,所述控制系统中包括计算机控制终端和温度对比单元,所述计算机控制终端的输出端与控制气缸的输入端连接,且温度传感器和计算机控制终端之间实现双向连接,所述计算机控制终端的输出端与温度对比单元的输入端连接。
本发明还公开了一种碳化硅开关器件散热性能测试装置的测试方法,具体包括以下步骤:
S1、首先将碳化硅开关器件放置在测试板上,此时通过控制系统中的计算机控制终端控制控制气缸启动进行操作;
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