[发明专利]一种全自动半导体检测设备

权利要求书

1.一种全自动半导体检测设备，其特征在于：包括机柜（1），所述机柜（1）上部设有检测位（11），所述检测位（11）上设有旋转台（7），所述旋转台（7）上设有多个工位（8），且所述旋转台（7）一侧布设有上料机构（9）和下料机构（10），另一侧周围布设有多个检测机构（16），所述上料机构（9）的内侧设有上料搬运机构（17），所述下料机构（10）内侧设有下料搬运机构（18），所述上料机构（9）移送物料到上料搬运机构（17）处，所述上料搬运机构（17）将产品移动到工位（8）上，所述旋转台（7）旋转，带动工位移动经过检测机构（16），并到达下料搬运机构（18）处，所述下料搬运机构（18）将产品分拣到下料机构（10）上，所述下料机构（10）将产品移送到设备外，所述上料搬运机构（17）的下方还设有底部检测机构（19），所述底部检测机构（19）包括检测台（191），所述检测台（191）的下方设有检测器（192），所述检测器（192）的检测端朝向检测台（191），所述检测机构（16）倾斜设置。

2.根据权利要求1所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：所述旋转台（7）包括旋转座（71），所述旋转座（71）的上部设有第一环形安装盘（72），下部设有第二环形安装盘（73），所述旋转座（71）下方设有第一驱动器，所述第一驱动器驱动旋转座（71）转动，所述旋转座（71）带动第一环形安装盘（72）和第二环形安装盘（73）转动，所述工位（8）设置在第一环形安装盘（72）和第二环形安装盘（73）上。

3.根据权利要求2所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：所述工位（8）包括多个托座（81），多个所述托座（81）安装在第一环形安装盘（72）上，所述第二环形安装盘（73）上设有驱动系统（82），所述托座（81）和驱动系统（82）连接，所述驱动系统（82）驱动托座（81）旋转。

4.根据权利要求3所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：托座（81）上还设有产品托盘（83），所述产品托盘（83）和托座（81）可拆卸连接。

5.根据权利要求3所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：所述驱动系统（82）包括依次布设的多个驱动单体（821），相邻驱动单体（821）之间设有导向轮（822），所述驱动单体（821）和导向轮（822）通过传动皮带（823）依次传动连接，任一驱动单体（821）和第二驱动器连接，第二驱动器驱动其带动传动皮带（823）移动，传动皮带（823）带动剩余驱动单体（821）自转。

6.根据权利要求1所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：所述下料机构（10）包括合格品下料通道（101）和次品下料通道（102），上料机构（9）、合格品下料通道（101）、次品下料通道（102）均包括固定架（91），固定架（91）上设有传送带组件（92），传送带组件（92）的一侧设有驱动轮组件（93），驱动轮组件（93）和第三驱动器连接。

7.根据权利要求1所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：上料搬运机构（17）和下料搬运机构（18）均包括支撑架一（171），所述支撑架一（171）上设有面板（172），所述面板（172）上开设有倒置的U形滑槽（173），所述U形滑槽（173）的下方设有滑台（174），悬臂（175）滑动式设置在滑台（174）上，其上端滑动式设置在U形滑槽（173）中，所述悬臂（175）的下端还连接有拾取组件（177），第四驱动器（178）通过连接板和悬臂（175）上端连接，并通过驱动连接板带动悬臂（175）上端在U形滑槽（173）中滑动，进而使得悬臂（175）同时升降和水平移动。

8.根据权利要求1所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：所述检测机构（16）包括支撑架二（161），所述支撑架二（161）的上部设有连接块（162），所述连接块（162）上转动式设有连接杆（163），所述连接杆（163）的其中一端设有锁扣（164），另一端设有托板（165），所述托板（165）上设有检测器（192）。

9.根据权利要求8所述的全自动半导体检测设备，其特征在于：所述检测器（192）包括检测相机（1921），所述检测相机（1921）的下端连接有镜筒（1922），所述镜筒（1922）的下方设有光源（1923）。