[实用新型]一种IC测试用下压装置

权利要求书

1.一种IC测试用下压装置，其特征在于,包括：

第一基板；

第一驱动机构，固定连接所述第一基板；

导向机构，固定连接于所述第一基板，并形成有沿第一方向延伸的第一导向结构；

第二驱动机构，供于固定测试组件，所述第二驱动机构滑动连接于所述第一导向结构内，并与所述第一驱动机构传动连接，所述第二驱动机构在所述第一驱动机构的驱动下沿所述第一方向运动。

2.如权利要求1所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述第二驱动机构包括：

第一驱动件，滑动连接于所述第一导向结构内，一端与所述第一驱动机构传动连接；

第二驱动件，连接于所述第一驱动件的另一端，供于固定所述测试组件；

在所述第一驱动机构的驱动下，所述第一驱动件在所述第一导向结构内驱动所述第二驱动件沿所述第一方向运动。

3.如权利要求2所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述第一驱动机构包括：

驱动电机，固定连接于所述第一基板；

转接件，固定连接于所述驱动电机的转轴，所述转接件上形成有容置槽，所述第一驱动件靠近所述转接件的一端容置于所述容置槽内。

4.如权利要求3所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述导向机构还包括：

第二导向结构，所述第二导向结构沿第二方向延伸，且所述第二导向结构与所述第一导向结构连通设置；

所述第一驱动件在所述转接件的驱动下在所述第一导向结构和所述第二导向结构内运动；

所述第一驱动件在所述第二导向结构内运动，以使所述第一驱动件在所述第二方向运动；

其中，所述第一方向和所述第二方向相互垂直。

5.如权利要求4所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述导向机构还包括：

导向板，固定连接于所述第一基板，所述第一导向结构和所述第二导向结构均为孔结构，且所述第一导向结构和所述第二导向结构均形成于所述导向板，并沿第三方向贯穿所述导向板；

其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两相互垂直。

6.如权利要求5所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述IC测试用下压装置还包括：

第一导向件，滑动连接于所述第一基板，并沿所述第二方向相对所述第一基板滑动；

所述第二驱动件滑动连接于所述第一导向件，并沿所述第一方向相对所述第一导向件滑动。

7.如权利要求6所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述IC测试用下压装置还包括：

挡板，固定连接于所述第一导向件；

光电感应器，固定连接于所述第一基板，用于在所述第一导向件驱动挡板沿所述第二方向运动且所述挡板运动至所述光电感应器的发射端和接收端之间时，检测所述第一导向件的位置。

8.如权利要求7所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述IC测试用下压装置还包括：

第二基板；

第三驱动机构，固定连接于所述第二基板，并与所述第一基板传动连接，用于驱动所述第一基板沿所述第三方向相对所述第二基板滑动。

9.如权利要求8所述的IC测试用下压装置，其特征在于，所述IC测试用下压装置还包括：

缓冲器，固定连接于所述第二基板远离所述第三驱动机构的一端，用于限定所述第一基板沿所述第三方向的运动。