[实用新型]一种IC测试用下压装置

说明书

本申请提供了一种IC测试用下压装置，包括第一基板、第一驱动机构、导向机构、第二驱动机构。其中，第一驱动机构固定连接第一基板。导向机构固定连接于第一基板，并形成有沿竖直方向延伸的第一导向结构，第二驱动机构滑动连接于第一导向结构内，并与第一驱动机构传动连接，第二驱动机构在第一驱动机构的驱动下沿竖直方向运动，从而使第二驱动机构在竖直向驱动测试组件运动，通过在导向机构上设置沿竖直方向延伸的第一导向结构，缩短了第二驱动机构在竖直方向上的行程，从而提高测试组件的测试效率。

技术领域

本申请属于IC芯片测试技术领域，更具体地说，是涉及一种IC测试用下压装置。

背景技术

对IC芯片(IntegratedCircuitChip)进行测试时，需要将IC芯片放置在待测平台上，采用测试组件对IC芯片进行检测。目前，现有的IC芯片测试装置中的测试组件多采用伺服丝杆结构驱动，如此，产生的技术问题是：伺服丝杆结构笨重，且测试组件在伺服丝杆结构上的行程比较长，致使单颗IC芯片测试运行时间长，从而导致测试效率低下。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种IC测试用下压装置，以解决现有技术中存在的IC测试装置测试效率低下的技术问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：提供一种IC测试用下压装置，包括：

第一基板；

第一驱动机构，固定连接所述第一基板；

导向机构，固定连接于所述第一基板，并形成有沿第一方向延伸的第一导向结构；

第二驱动机构，供于固定测试组件，所述第二驱动机构滑动连接于所述第一导向结构内，并与所述第一驱动机构传动连接，所述第二驱动机构在所述第一驱动机构的驱动下沿所述第一方向运动。

一实施例中，所述第二驱动机构包括：

第一驱动件，滑动连接于所述第一导向结构内，一端与所述第一驱动机构传动连接；

第二驱动件，连接于所述第一驱动件的另一端，供于固定所述测试组件；

在所述第一驱动机构的驱动下，所述第一驱动件在所述第一导向结构内驱动所述第二驱动件沿所述第一方向运动。

一实施例中，所述第一驱动机构包括：

驱动电机，固定连接于所述第一基板；

转接件，固定连接于所述驱动电机的转轴，所述转接件上形成有容置槽，所述第一驱动件靠近所述转接件的一端容置于所述容置槽内。

一实施例中，所述导向机构还包括：

第二导向结构，所述第二导向结构沿第二方向延伸，且所述第二导向结构与所述第一导向结构连通设置；

所述第一驱动件在所述转接件的驱动下在所述第一导向结构和所述第二导向结构内运动；

所述第一驱动件在所述第二导向结构内运动，以使所述第一驱动件在所述第二方向运动；

其中，所述第一方向和所述第二方向相互垂直。

一实施例中，所述导向机构还包括：

导向板，固定连接于所述第一基板，所述第一导向结构和所述第二导向结构均为孔结构，且所述第一导向结构和所述第二导向结构均形成于所述导向板，并沿第三方向贯穿所述导向板；

其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两相互垂直。

一实施例中，所述IC测试用下压装置还包括：

第一导向件，滑动连接于所述第一基板，并沿所述第二方向相对所述第一基板滑动；