[其他]有自测试能力的超大规模集成电路无效
申请号: | 85108326 | 申请日: | 1985-11-11 |
公开(公告)号: | CN85108326A | 公开(公告)日: | 1986-12-03 |
发明(设计)人: | 科克·D·胡;罗伯特·W·布卢默;西奥·J·鲍威尔;萨蒂西·M·撒特 | 申请(专利权)人: | 得克萨斯仪器公司 |
主分类号: | H01L27/00 | 分类号: | H01L27/00;H01L21/66;G01R31/28 |
代理公司: | 上海专利事务所 | 代理人: | 颜承根 |
地址: | 美国得克萨斯州75265达*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 能力 超大规模集成电路 | ||
1、一种自测试电路,包括:
一从外系统接收输入信号并根据与该功能电路块连成整体的预定功能对收到的输入信号进行处理的功能电路块,上述被处理的输入信号从上述功能电路块输出到上述外部系统;
产生测试图形信号输入到上述功能电路块的图形装置;
识别装置,该装置接收上述功能电路块的输出处理信号,将输出信号与预定测试标准进行比较,及当在上述功能电路块的输出信号及上述预定测试标准之间作有效比较时,输出有效比较信号;
控制上述图形装置响应接收外自测试起始信号并根据预定测试程序产生上述测试图形信号的控制装置;
上述功能电路,图形装置,识别装置及控制装置为自备的(Self-contained)整体单元;
上述控制装置探测出上述识别装置的输出,并且如果对于由上述测试图形装置根据上述预定测试图形所产生的所有上述测试图形信号没有探测出有效比较信号时则输出一故障信号;
将上述整体单元与外系统相连从该处接收上述自测试起始信号并发送上述故障信号到该处的接口装置,上述接口装置专用于上述功能电路的自测试。
2、如权利要求1的自测试电路,其中上述接口装置相对于上述整体单元异步工作。
3、如权利要求2的自测试电路,其中上述接口装置接收从上述外系统来的串行数据及上述控制装置控制上述功能电路块从上述接口装置接收上述外系统数据进行处理,上述控制装置通过上述接口装置控制数据的输出以串行格式回到上述外系统。
4、如权利要求1的自测试电路,其中上述功能电路块的上述预定功能包括多个功能性操作。
5、如权利要求4的自测试电路,其中上述控制器用以控制上述功能电路块根据上述预定测试程序完成其多个功能中的所欲的一个功能。
6、如权利要求1的自测试电路,其中上述自测试起始信号的产生使上述控制器装置在上述预定测试程序的持续期间启动一相应的注意信号,上述故障信号的产生维持上述注意信号在工作状态以便用在工作状态的注意信号的出现来确定故障。
7、如权利要求1的自测试电路,其中上述控制装置产生上述测试标准对应上述产生的测试图形信号。
8、如权利要求1的自测试电路,其中上述功能电路块是数字的及上述测试信号包括数字数据,上述图形装置包括用来贮存多个数字数据字并可用上述控制装置寻址的存贮装置,上述存贮装置的寻址输送出选择数字数据并输入到上述功能块进行处理。
9、如权利要求1的自测试电路,其中上述控制装置包括:
贮存以诊断程序形式出现的上述预定的测试程序的存贮器;
以预定次序执行上述诊断程序的执行装置;及
探测上述识别电路的输出并确定是否在上述诊断程序末尾接收到有效比较信号的探测装置;
如果上述诊断程序的末尾没有收到有效比较信号就产生上述故障信号。
10、如权利要求1的自测试电路,其中上述识别装置利用数据压缩技术来将数据压缩及用上述预定的测试标准比较上述被压缩的数据。
11、如权利要求1的自测试电路,还包括将上述功能电路块与接收输入信号隔离以便使功能接口与外系统隔离的装置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的