[其他]碳化硅(SiC)二极管温度传感器无效

专利信息
申请号: 85109140 申请日: 1985-12-12
公开(公告)号: CN85109140B 公开(公告)日: 1988-06-29
发明(设计)人: 綦明刚;周嶅;邱莉;吴铁;张咏紫;邹小兴 申请(专利权)人: 湖北省襄樊市机电研究所;国家建材工业局建筑材料科学研究院玻璃科学研究所
主分类号: H01L35/00 分类号: H01L35/00;G01K7/02
代理公司: 襄樊市专利事务所 代理人: 孟景前,樊灵芬
地址: 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 碳化硅 sic 二极管 温度传感器
【说明书】:

发明是一种碳化硅二极管温度传感器,可用于0~700℃范围的温度测量。

常用中温区温度测量元件有热电偶、铂电阻以及热敏电阻等。热电偶灵敏度很低,如镍铬-镍铝热电偶的灵度为40μV/℃左右;铂电阻的灵敏度也较低,桥路灵敏度一般在1mv以下,而且体积较大;热敏电阻虽然灵敏度高,但为非线性元件。

由张开逊等人发明的“α-碳化硅PN结宽温度区高线性度测温技术”(1985年6月30日人民日报),其碳化硅PN结温度传感器测温范围为0~500℃,灵敏度为-2~-3mV/℃,非线性偏差为0.5%~1%(第五砂轮厂“BW温度传感器”说明书),虽然具备了灵敏度高,线性好以及体积小等优点,但是它的测温上限还不够高,不能充分发挥出此类温度传感器可能实现的优异测温性能。

本发明的目的是制造一种测温范围更宽,特别是测温上限更高的碳化硅二极管温度传感器。

附图1为本发明的结构示意图。1为P型层,2为N型层,3和4为钨膜,5和6为金膜,7和8为金丝引线,9和10为铂丝或镍丝后引线,11为微晶玻璃包封层,12为氧化铝双孔瓷管,13为微晶玻璃粘固层。

附图2A为体电阻大时的碳化硅二极管温度传感器的V-T特性曲线。

附图2B为本发明的温度传感器的V-T特性曲线。

本发明的要点在于碳化硅二极管温度传感器,当用P型碳化硅单晶做基底外延N型层时,在外延的同时,使氮原子从两面扩散到P型基底中去。当用N型碳化硅单晶做基底时,外延的P型层厚度小于0.1mm。采取上述措施后,减小了PN结中半导体的体电阻,从而减小了传感器正向压降的热敏电阻非线性影响。这样,既便是增大工作电流、提高二极管正向压降,也可以保证在测量范围内低温段线性良好,因此达到提高测温上限的线性范围的目的。

本发明用钨做电极材料,在钨电极上镀金膜,使引线与电极欧姆接触良好。

本发明采用特种微晶玻璃包封PN结,包封温度低,在空气中包封也不损伤电极材料,不损害欧姆接触。在750℃时仍有良好的包封性能。

微晶玻璃的组份范围(Wt%)是:

ZnO25~55MgO2~7

B2O315~25BaO2~7

SiO28~27SnO21~3

Al2O33~15Cr2O30~1

微晶玻璃最佳组份范围(Wt%)是:

ZnO30~50MgO4~5

B2O320BaO4~5

SiO210~25SnO22~3

Al2O35~12Cr2O30~1

包封温度范围是650~800℃,最佳包封温度范围是650~750℃,包封时间范围是1~60分钟,最佳包封时间范围是5~40分钟,包封气氛是空气。

实施例:

用P型六角片状碳化硅单晶片,抛光后,在以石墨为加热器的气相外延炉中,用绿色工业碳化硅砂做炉料,在外延时,通以纯氮气进行掺杂,外延一层N型碳化硅单晶,形成如图1中的P型层1和N型层2的PN结。在此过程中,氮原子从基底的两面扩散到其内部。PN结单晶片的厚度为0.3~0.4mm。

形成了PN结的碳化硅单晶片,两面蒸发上厚为1-10μm钨膜(3、4),再两面蒸发上厚为1~2μm的金膜(5、6),经过合金化热处理,使得镀膜牢固后,切成长宽都为0.7mm左右、厚为0.3~0.4mm的管芯,采用2~4mm长金丝做引线(7、8),将该引线热压焊在管芯两面的金膜(5、6)上面。采用铂丝或镁丝做后引线(9、10)。采用微晶玻璃粘固层(13)把后引线(9、10)与氧化铝双孔瓷管(12)粘固起来。

用一种特制的微晶玻璃材料把PN结包封起来,形成包封层(11),其典型组份(wt%)为:

ZnO30MgO5

B2O320BaO5

SiO225SnO23

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