[其他]测微量具微分筒上棱边高度检定仪无效
| 申请号： | 85201876 | 申请日： | 1985-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN85201876U | 公开（公告）日： | 1986-10-29 |
| 发明（设计）人： | 安立平 | 申请（专利权）人： | 安立平 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 天津市专利事务所 | 代理人： | 周永铨 |
| 地址： | 天津市河东区王*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 微量 微分 筒上棱边 高度 检定 | ||
【权利要求书】：
1、一种检测测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边一边缘距离(测微量具微分筒上棱边高度)的塞尺或者工具显微镜，本实用新型的测微量具微分筒上棱边高度检定仪的特征是：它是由一个千分表，一个可固定千分表和定零位面的主体和一个可与千分表顶杆连接的触头构成的。
2、根据权利要求1所述的测微量具微分筒上棱边高度检定仪，其特征在于：上述的主体外形呈一缺角柱体，其上部有一可插入千分表套管的圆孔（o），孔侧有一个定位紧固机构（f），其下部有一个倒置的V形槽，构成V形槽的两个平面（c、d）与铅垂面（b）相垂直并对称于由平面c、d的交线和圆孔中心线（o）构成的平面，在面b的上部有一限制触头下坠的水平台阶（e）。
3、根据权利要求1所述的测微量具微分筒上棱边高度检定仪，其特征在于：上述的触头是楔形体，其上部有一可与千分表顶杆连接的螺柱（g），侧面有一侧基准平面（h），平面的上部有一可与台阶（e）接触的突起（i），装配后楔形体的触物线L与圆孔（o）中心线相垂直。
4、根据权利要求1、2或3所述的测微量具微分筒上棱边高度检定仪，其特征在于：上述主体上的铅垂平面（b）与楔形触头上的铅垂面（h）处于同一平面上并可呈滑动接触。
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