[其他]测微量具微分筒上棱边高度检定仪

说明书

本实用新型属于测距量具。为了降低视觉误差，在国家计量器具检定规程中，规定了测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘的距离（高度）须用工具显微镜检定，或者用0.4毫米的塞尺置于固定套管纵刻线面以比较法检定。但是，用工具显微镜检定相当麻烦，成本也较高，而且对测量范围为500～2000毫米的测微量具不能很好地检测；用塞尺比较法检定不能准确地测定固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘的距离，不能作为仲裁检定方法。

本实用新型之目的是：制造一种能够适用于各种测量范围的测微量具的，并且能快速而正确地测量微分量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘距离（高度）的测量仪。

本实用新型是这样来实现上述目的的：本检定仪是由一个千分表（1），一个用来固定千分表和定零位面的主体（2），一个可与千分表顶杆相接的触头（3）构成的。

上述的主体（2），其外形像被一个水平平面（a）和一个铅垂平面（b）裁去了下部的缺角柱体，在缺角部的上部有一个可插入千分表套管的贯通圆孔（o），其侧面有一个可将千分表定位的紧固机构（f）；主体（2）的下部柱体上开有一个倒置的V形槽（V），构成V形槽（v）的二个平面（c和d）与上述铅垂平面（b）相垂直并对称于由平面c、d的交线和圆孔（o）中心线构成的平面；在主体（2）的下部柱体的侧面（b）的上部切去一部分，构成一可限制触头（3）下坠的水平台阶（e）。

触头（3）是楔形体，其顶部有一个可与千分表顶杆相接的螺柱（g）侧部有一个与千分表顶杆中心线平行的侧基准平面（h），在平面h侧的上部有一个可与前述台阶（e）接触而限制触头下坠的小突起（i）。

装配与使用：

将千分表（1）的套管从上插入主体（2）的圆孔（o），定位后紧固；将触头（3）拧固在千分的顶杆上，并保证触头的侧面h与主体（2）上的一侧面b成平行并处于同一平面中（可呈滑动接触）。必须强调，各所述平面a、b、c、d必须按要求加工；平面b与平面h必须平行并可呈滑动接触；触头（3）下端的触物棱线（l）必须与圆孔（o）的中心线（即千分表顶杆中心线）相垂直。

测量时，将主体（2）通过V形槽跨在测微量具的固定套管上，使V形槽的两个平面与固定套管母线呈密接触，放下顶杆，使触头（3）的触物线（l）与固定套管成切线接触，调整千分表零点，拉起顶杆，使主体（2）的平面b与微分筒的环形边缘紧密接触，放下顶杆，使触头（3）的触物线（l）与微分筒锥面呈切线接触，即可由千分表读出测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边上边缘的距离（高度）。

实施例：

本人曾按上述结构制作了主体和触头，并按上述要求所了装配，把所得之检定仪对多种测量范围的微分量具作了检测，证明其测量筒单、快速、正确（与用工具显微镜所测结果相近、误差不大于0.005毫米）。另外，本人还作了一个校对量具，定期校准本检定仪，实践证明本检定仪具有良好的重复性和稳定性。

图1是部分剖示的总装配图

图2是装配图的侧视图（未画千分表）

图3是测量示意图

图4是校对量具