[其他]X荧光分析仪双补偿件及制作方法无效

专利信息
申请号: 86101103 申请日: 1986-02-04
公开(公告)号: CN86101103A 公开(公告)日: 1987-12-23
发明(设计)人: 邓中林 申请(专利权)人: 邓中林
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 湖南省邵阳市专利事务所 代理人: 胡国华
地址: 青海省祁连地*** 国省代码: 青海;63
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摘要:
搜索关键词: 荧光 分析 补偿 制作方法
【权利要求书】:

1、一种轻便式X射线荧光分析仪双补偿件,包括平衡滤片和NaⅠ(Tl)晶体,其特征是Na±(Tl)晶体铍窗口上有一件补偿片Ⅱ和平衡滤片的吸收片上有一件补偿片Ⅰ。

2、一种如权利要求1所述的双补偿件的制作方法,其特征在于该双补偿件的制作载体是定量滤纸或塑料《613》粉。

3、根据权利要求(1)所述的双补偿件,其特征是补偿片Ⅱ尺寸大小与铍窗口直径大小一致,补偿片Ⅰ形状大小与平衡片中的吸收片一致。

4、根据权利要求2所述的制作方法,其特征是补偿片的制作载体是定量滤纸时,补偿片Ⅱ的载体吸附300-400mgGeo2的氯化物标准溶液,补偿片Ⅰ的载体吸附50-150mg大于被测元素的原子序数3~5号元素的化合物。

5、根据权利要求2所述的双补偿件制作方法,其特征是补偿片的制作载体是塑料《613》粉时,补偿片Ⅱ的载体吸附300~500mgGeo2的氯化物标准溶液,补偿片Ⅰ的载体吸附50~150mg大于被测元素的原子序数3~5号元素的化合物。

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