[其他]X荧光分析仪双补偿件及制作方法

说明书

一种用于非破坏性元素分析的轻便X射线荧光分析仪探头中的补偿件。

已知的轻便X射线荧光分析仪（XyX-1型、XyX-1、Hyx-2、Hyx-3等型号）都只能对原子序数为23～90的元素进行无损、低耗、快速和现场分析，对原子序数为11～22的Kα层电子能量和原子序数大于80的Lα层电子能量很难分析准确。如直接测试金含量的准确度和稳定性都很差，只有测试与金相关性较好的共（伴）生元素和组合元素的荧光强度来估算金含量，人们目前采用的原子吸收，原子荧光和发射光谱等化学分析仪都必须事先对被测元素进行一系列很烦琐、很复杂的化学处理;以上仪器笨重，造价昂贵，只能在室内进行测试分析，不能进行现场直接测试。提供分析结果很慢。现在有人在轻便X射线荧光分析仪的平衡滤片对上加置塑料薄膜对某个元素补偿，但补偿的效果和稳定性不够理想：在иaI（Tl）晶体前的铍窗口上进行补偿的还没有，类似D37双补偿件的制作方法也没有。

本发明是在保持轻便X射线荧光分析仪的无损、低耗、快速和现场分析的特性条件下，达到直接测金，能准确分析出原子序数为11～50号元素的Kα射线和大于50号元素的Lα射线的荧光强度的目的。

本发明是通过以下方式来实现的。在轻便X射线荧光分析仪探头结构中，粉末样品（1）置于样品杯（2）中，样品杯托环（3）托住样品杯;在样品杯与同位素源（5）之间防护屏（4），在同位素源的下面设有平衡滤片（6），一端为透过片，另一端为吸收片，在吸收片上装置一个D37补偿片（9），被激发的特征X射线经过吸收片和D37L补偿片入射到иaI（Tl）晶体（7）上，这种入射的X荧光强度已获得D37L补偿，称为第一次补偿。在иaI（Tl）晶体的铍窗口上装置一个D37补偿片（10），它能将低原子序数的元素Kα线和高原子序数的Lα线的X荧光强度由负脉冲读数校正为正脉冲读数，称为第二次补偿。光电倍增管（8）输出讯号经电缆传输到主机上。

本发明的制作方法是根据补偿件的原材料情况分为两种：一是在无塑料《613》粉的情况下，载体可用定量滤纸吸附300～400mgGeo₂标准溶液，凉干后制作成玻窗口иaI（Tl）晶体的D37Z补偿片;用定量滤纸吸附50～150mg的大于待测元素的原子序数3～5号元素化合物（或氧化物）标准溶液制作成D37L补偿片;将两种补偿片风干后用聚烯薄膜封装。用此方法制作流程简单，快速，载体易取，短期效果良好，只能随制随用。二是用塑料《613》粉做载体，将《613》粉溶于10%丙铜中，加入300～500mgGeo2标准溶液充分搅匀后，再加入5ml邻苯二甲酸二酊酯有机试剂，搅拌均匀，涂置在装有聚乙酯薄膜蒙上的模型上，根据铍窗口直径大小修整成形即为D37Z补偿片。取大于待测元素的原子序数3～5号元素的化合物（或氧化物）按D37Z的制作方法制作好后再根据平衡滤片吸收片形状修整成型即为D37L补偿片。