[其他]铟锡氧化物透明导电膜生产工艺无效

专利信息
申请号: 87107654 申请日: 1987-12-31
公开(公告)号: CN87107654A 公开(公告)日: 1988-10-12
发明(设计)人: 彭传才;金昭廷 申请(专利权)人: 国防科学技术大学
主分类号: H01B5/14 分类号: H01B5/14;C23C14/00
代理公司: 国防科学技术大学专利办公室 代理人: 盛湘饶
地址: 湖南省长*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 氧化物 透明 导电 生产工艺
【权利要求书】:

1、一种铟锡氧化物透明导电膜的生产工艺,其特征在于:各工艺技术参数采用如下的组合方式:

铟∶锡=10∶1            (重量比)

基片加热温度            150~200℃

湿氧流量                80~160mL/分

反应蒸发氧压 1×10-2~3×10-2

蒸发钼舟尺寸(加热部份)  (5~10)mm×(8~12)mm

钼舟加热温度            880~920℃

沉积速度                300~600埃/分

蒸发时间                2~5分

沉积周期                20~25分

基片与蒸发源垂直距离    100~120mm

基片旋转速度            25转/分

蒸发料总量              0.2~0.3克

2、根据权利要求1所述的生产工艺,其特征在于:反应蒸发过程采用如图1所示的控制曲线进行,恒定湿氧流量,调节氧压在1×10-2~3×10-2托之间,根据氧压变化调节钼舟加热电流,使氧压始终稳定在1.2×10-2~1.6×10-2托。

3、根据权利要求1所述的生产工艺,其特征在于:在基片5与钼舟7的垂直距离为100~120mm的条件下,钼舟7的中心点与镀膜机中心轴的距离为115~130mm。

4、根据权利要求1所述的生产工艺,其特征在于:在距镀膜机中心轴r=115~130mm的环形位置上,同时设置多个钼舟,钼舟之间采用并联方式连接。

5、根据权利要求4所述的生产工艺,其特征在于:所有钼舟使用的加热电流由同一个电源供给。

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