[发明专利]密度校正方法及装置无效

专利信息
申请号: 88103593.9 申请日: 1988-05-06
公开(公告)号: CN1014471B 公开(公告)日: 1991-10-23
发明(设计)人: 小松资明;佐藤繁雄 申请(专利权)人: 富士胶片公司
主分类号: G03C5/02 分类号: G03C5/02
代理公司: 中国专利代理有限公司 代理人: 叶凯东,吴增勇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 密度 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1、一种校正实测密度的方法,其特征在于包括以下步骤:

测量高和低的标准密度元件以得到标准的高和低的密度的实测值;

根据所述实测值和作为所述高和低的标准密度板的密度而预置的标准值之间的差得出零点修正数据;

将所述零点修正数据存入存储器;

从所述存储器中读出所述零点修正数据,用以校正物体密度的实测值;

所述零点修正数据被代入如下公式,得出经过校正的测量值R:

R=RD-α·RD-K

式中:α是系数,

K是常数,

RD是实测值,

α、K分别用下式表示:

a = (R 2- R H) - (R 1- RL)(R 2- R1)]]>

K=(R1-RL)

式中:RL是所述低标准密度值,

RH是所述高标准密度值,

R1是低标准密度实测值,

R2是高标准密度实测值。

2、根据权利要求1所述的方法,其特征是所述的实测值是排除了周期性测量同一点所得的最大实测值和最小实测值的一系列实测值的平均值。

3、一种测量反射密度的方法,在这种方法中,物体的反射密度是通过测量被灯照射的所述物体的反射光和作为参比光的从所述灯发出的部分光来计算的,所述方法包括以下步骤:

在启动测量之后,使所述灯按预定的时间发光;

在所述预定时间内多次测定被测物体的反射光和参比光,以测出一系列实测值;

计算所述一系列实测值的平均值作为所述物体的反射密度。

4、根据权利要求3所述的方法,其特征在于所述平均值是根据排除了最大的和最小的实测值的其他实测值得出的。

5、根据权利要求3所述的方法,其特征是所述预定的时间等于或小于0.9秒。

6、根据权利要求3所述的方法,其特征是所述反射光和参比光的测量从所述灯光开始到预定时间结束进行四次。

7、一种便携式密度计,其特征在于包括:

可用一只手提起的壳体;

安装在壳体底部、以便将其定位于被测物体之上的测量孔元件;

安装在所说外壳底部的测量头组件;

根据由所述测量头组件输出的信号计算密度的计算电路;

显示所述计算电路所计算出的密度的显示板;

供给上述装置电源的电池。

8、根据权利要求7所述的便携式密度计,其特征是所述壳体具有一个在其中装配有发光装置和光接收装置的测量头体,所述头体在它的底面和前面之间开有一凹槽,其底部装有一透明板,透明板之中开有所述测量孔。

9、根据权利要求8所述的便携式密度计,其特征是所述测量孔设计为一截头倒圆锥形的孔,具有一漆成黑色的内表面。

10、根据权利要求9所述的便携式密度计,其特征是所述孔的直径大约小于2mm。

11、根据权利要求10所述的便携式密度计,其特征在于所述测量头体是用耐热性黑色ABS塑料制成。

12、根据权利要求7至11之中任意一项的便携式密度计,其特征在于进一步包括有:

检查电池功率预定电平的电池检测电路;

当所述电池检查电路检测出电池功率低于所述预定电平时,发出更换电池目视报警指示的指示器;以及

当所述电池功率低于所述预定电平时,禁止所述密度计采集数据的控制装置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片公司,未经富士胶片公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/88103593.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top