[发明专利]密度校正方法及装置

说明书

本发明涉及一种用标准密度板校正实测密度的方法及其装置。

已经有两种类型的密度计：用于测定被测物体的透射密度的透射光密度计和用于测定被测物体的反射密度的反射光密度计。这两种密度计广泛地应用于图象记录，例如照相、印刷等等，用于测定图象记录材料或记录在图象记录材料上的图象的特性。在科学测量领域中，用作测量压力的膜片一般同反射光密度计一起使用。这种压力测量膜片根据压力的变化使颜色或品红色（magenta）的密度发生变化。这种膜片被放置在施加压力的地方，以便使它的颜色发生变化。然后，用测定反射密度来测量变色的膜片，参照密度对压力的换算表，根据所测得密度就得出压力。

常规的光密度计包括一主机，该主机由各种部件，例如操作电路、仪表、电源等组成;一与主机相连接的独立的测量头，用以测定被测物体的反射光或透射光。这一独立的测量头装有一个向物体投射光的光投射装置，一个接收从物体返回的光的光接收装置和一个用于测定作为参比光的那部分投射光的参比光检测装置。

通常，当使用密度计时，需要在正式测量物体之前对密度计进行零点修正，目的在于避免由于环境因素，例如温度和周围光线条件和由于机内因素，例如由于老化的原因灯和光接收元件发生变化所引起的误差。为了进行零点修正，要对具有已知密度的元件进行测量以补偿实测密度与真实密度之间的差。

实际上，用待修正的密度计去测量一低密度标准元件。由被看作低密度标准值的实测值，调节密度计仪表指针以指示相应的低密度标准值。然后，用这个密度计测量一高密度标准元件。按同样的办法，调节仪表指针以指示高密度的标准值。这样的调节重复几次，为的是调节仪表指针，使其指示与已知的低和高密度的标准值一致，达到零点修正的目的。

在常规的零点修正方法中，需要多次调节仪表指针以进行零点修正，这是一种相当繁琐的操作。

常规的密度计，由于它们的主机与测量头是相互分离的，所以操作和携带不方便。这样的测量头具有一个测量面，这个测量面是属于开有一测量孔的光屏蔽板，这个测量孔应位于被测物体之上。因此，如果物体很小，那么要将测量孔准确地对准这个物体是很麻烦的。

本发明的目的就是提供一个校正密度实测值的方法和装置，不需要进行零点修正的调节操作。

本发明的另一个目的就是提供一种结构紧凑的密度计，它使用和携带都很方便。

根据本发明的校正密度实测值的方法包括以下步骤：测量已知其密度值的高密度标准和低密度标准的元件，得出并存储零点修正数据值，这种零点修正数据是根据标准密度的实测值与已知标准密度值之间的差得出的，最后使用零点修正值数据来校正物体密度的实测值。这一零点修正值可以用一个公式表示，包括系数项和常数项。当α、K和R_D分别是系数项、常数项和密度实测值时，被校正过的密度实测值R用下面公式表示：

R＝R_D-α·R_D-K

根据本发明实施这一校正密度实测值的方法的装置，一般包括一竖立的主机机壳，其中装配有操作电路，显示板、电源电路等，及它们的连接件以及安装在机壳底的测量头。这个测量头具有一开口，这个开口是一个由从底侧到前面之间的一个凹槽形成的。测量头底部的这个开口用一透明板盖着，这一透明板上有一截头倒圆锥形测量孔，被测物体就放在这个孔的下方。通过这个内表面漆成黑色的孔来测量这个物体的反射密度。

本发明还提供了一个盛放这种密度计的箱子，以便保护和携带仪器。当使用密度计时，这个箱子能方便地用于零点修正。为此，箱子底板内侧带有高的和低的已知密度的板或块。将密度计装在箱子底部上，便很容易进行零点修正。

本发明的密度计避免了通常用来进行零点修正的调节元件的操作。制成一个整体的密度计便于使用和携带。本发明的密度计具有一个在透明板上加工成的测量孔，该透明板安装在一包含有投射光和测光装置的测量头的底部。就使得很容易将测量孔对准被测物体。由于测量孔具有截头倒圆锥形状并且内表面漆成黑色，所以它可以阻挡不希望有的射入其中的反射光。

此外，本发明的测量方法的特点还在于使用一系列实测值的平均值，使得密度测量结果更为准确。本发明的密度计还能在电池电压低于预定水平时暂停测量并报警，就可以消除误测量。由于箱子固定装有用于进行零点修正的标准密度板，所以就可以避免用错标准密度板。

参照附图及其说明，结合最佳实施例，上述目的和特征以及其余的附加特征就会很清楚。

其中：

图1是表示实施本发明的密度计的外观透视图;