[发明专利]探测和修补接合处隙缝的方法无效
申请号: | 90104976.X | 申请日: | 1990-07-28 |
公开(公告)号: | CN1049046A | 公开(公告)日: | 1991-02-06 |
发明(设计)人: | 戴维·布鲁斯·贝朗;克图·林奇·沙特勒;斯蒂芬·约翰·坦赞;罗纳德·彼得·卡普;杰拉尔德·欧文·马伦;约翰·约瑟夫·麦吉泰安;约翰·弗朗西斯·丹尼尔斯;菲利普·威尔克斯·凯特尔;劳伦斯·詹姆斯·科伊尔;克利福德·特伦斯·帕克;弗雷德比·乔治·金;克雷格·约瑟夫·泽阿;约翰·L·莫里斯 | 申请(专利权)人: | 西屋电气公司 |
主分类号: | F01D25/00 | 分类号: | F01D25/00;F01D5/28;B23Q23/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测 修补 接合处 隙缝 方法 | ||
1、一种加工接合处的方法,包括:测量接合处两相邻表面之间的间隙;和通过使两表面匹配而减少间隙,其特征在于,使用可压缩的间隙测量介质测量此间隙,接合处的表面按间隙测量结果被仿形;和以此两仿形图组合以产生一无间隙接合面仿形图。
2、按照权利要求1所说的方法,其特征在于接合处每一表面的高度变化率是在预定值的范围内。
3、按照权利要求1或2所说的方法,其特征在于遍布表面的空气环流被抑制,对每个测量点的多个测量值取其平均值。
4、按照权利要求1,2或3所说的方法,其特征在于为每次仿形指定一基准平面。
5、按照权利要求1-4中任一权利要求所说的方法,其特征在于建立接合面和间隙的图,在通使表面匹配而使间隙减少之后产生一间隙基准仿形图。
6、按照权利要求1~5中任一权利要求所说的方法,其特征在于间隙记录在可复制的基准栅格上。
7、按照权利要求1-6中任一权利要求所说的方法,其特征在于所说的表面用激光控制加工使之匹配。
8、按照权利要求1~7中任一权利要求所说的方法,其特征在于首先检查第一和第二接合面的腐蚀情况;然后在第一和第二接合面上形成可复制的基准栅格;进行兰色接触间隙检查,测隙规间隙检查,以及用可变形间隙测量介质对包括相互相对的第一和第二表面做间隙检查,再用激光测量系统对第一和第二表面进行仿形,用所有的测量结果,制定一种可形成一小于或等于决预值的间隙和小于预定的表面高度变化,从而使第一和第二表面相匹配的计划;和通过修平第一和第二表面中超过预定值和误差的区域而使第一和第二表面匹配。
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