[发明专利]具有垂直汽相淀积工艺形成的发射极的非平面场发射器件无效
申请号: | 91100957.4 | 申请日: | 1991-02-08 |
公开(公告)号: | CN1057125A | 公开(公告)日: | 1991-12-18 |
发明(设计)人: | 戈罗肯·赫伯特;凯恩·罗伯特 | 申请(专利权)人: | 莫托罗拉公司 |
主分类号: | H01J9/02 | 分类号: | H01J9/02;H01J1/30;H01J19/24;H01J21/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 乔晓东 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 垂直 汽相淀积 工艺 形成 发射极 平面 发射 器件 | ||
本发明涉及冷阴极场发射器件,特别涉及电极基本上非平面排列的发射器件的形成。
冷阴极发射器件(FED)是本领域的公知技术,FED有两个或更多个电极,包括一个发射极和一个集电极。此外,还可包括一个或多个栅极以调节器件的工作。
具有基本上非平面排列的电极的FED已是公知的。在一种先有技术实施方案中,发射极构成一锥形体。利用一基本上垂直的汽相淀积工艺和一低角汽相淀积工艺(通常同时使用)来形成锥形。基本上垂直的汽相淀积工艺提供材料以支持构成发射极锥体,而低角汽相淀积工艺保证一小孔的逐渐关闭,该孔越来越限制从垂直淀积过程来的材料的引入,从而形成截面逐渐缩小的锥形体。
上述过程导致一系列问题。例如,其上形成有FED的衬底在低角汽相淀积过程中必须连续转动以便保证小孔对称闭合。如果没有这种对称闭合,得到的发射极锥形体可能是畸形的,并且可能不能有效地支持其预定目的。另一个例子是,垂直和低角汽相淀积过程通常同时进行。由于这两个过程一般会导致不同材料的沉积,必须除去形成的封闭层(由各种材料混合而成)以便能提供一个有用的器件。
因此,需要一种基本上能避免至少一部分上述问题的形成基本上非平面的FED的方法。
本发明所公开的FED形成方法基本上满足了这些需要。根据本发明,一个具有腔体的壳体为后续基本垂直(但不是绝对垂直)的汽相淀积过程提供了基础,它使得一基本对称的发射极锥体能在腔体中形成。在此过程中,腔体以基本对称的方式逐渐闭合,从而使发射极锥形体易于形成。
这种方法不需要用低角汽相淀积工艺来闭合腔体的孔。相反,由于所用的汽相淀积工艺是基本(不是绝对)垂直的,因而沉积粒子有充分的横向移动,足以保证材料被淀积到腔体开口的侧面,从而在工艺过程中闭合腔体。
在本发明的一个实施例中,上部封装层在发射极形成后被去掉,以使后续工艺步骤能继续进行。
根据本发明的另一实施例,将封装层保留并用作所得器件的一个电极。
图1a~1f示出了在形成本发明FED的一个实施例时各步骤所得结构的放大的侧剖图;
图2a~2c示出了在形成本发明的FED的另一个实施例时各步骤所得结构的放大的侧剖图。
根据本发明的一个实施例,衬底101(图1a)可有根据公知的沉积技术而沉积于其上的一层介质层102,金属化层103以及光敏抗蚀剂层104。而后可以有选择地将光敏抗蚀剂暴光和显影,可通过腐蚀工艺去掉光敏抗蚀层104和金属化层103的选定部分(图1b)。
而后可用活性离子蚀刻工艺去掉介质层102的选定部分以形成腔体的延续部分107。在此实施例中,去掉的介电材料(102)的量应是以使衬底101的一部分暴露出来。在此实施例中还示出了介质材料102的蚀刻可连续进行直到建立起一侧凹槽。这种侧凹槽虽不是必须的,但在需要时它将在后续工艺中协助去掉多余的金属。
如本领域中公知的那样,当向一由所需导电沉积材料构成的汽相淀积靶(未示出)加能量时,一基本垂直(不是绝对)的汽相淀积过程就开始了。汽化的材料以与衬底101基本垂直的方向109移动,并沉积在腔体中和光敏抗蚀层104上。落入腔体底部的材料形成发射极锥形体112。落在光敏抗蚀层104上的材料形成封装层111。
由于汽相淀积材料基本上相对于要形成的器件垂直(但不是统计上的绝对)移动,所以某些材料粒子有一横向移动分量。这些粒子中的一些沉积在腔体的侧壁上,并逐渐堵塞腔体上的孔。随着孔的闭合,进入腔体的材料越来越少,从而基本上能满足一锥形发射极112的形成。如果需要,衬底不必相对于汽相淀积靶旋转。
最后,腔体的孔将被完全封住。这时发射极锥体112将全部完成(图1e)。而后,可通过已知的方法去掉沉积的上部金属层111和居中的光敏抗蚀层104以提供衬底101,介质层102和金属化层103,包括形成在腔体中的锥形发射极112(图1f)。此后,可根据公知的先有技术加上附加的介质层、绝缘层和/或金属化层及封装层,以便制成一个具有所期望的电极结构和工作特性的场发射器件。此后所用的特殊结构与理解本发明无关,因而不再详述。
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