[实用新型]消除半导体压降和漏电流装置无效
申请号: | 91200849.0 | 申请日: | 1991-01-14 |
公开(公告)号: | CN2092833U | 公开(公告)日: | 1992-01-08 |
发明(设计)人: | 于兴根 | 申请(专利权)人: | 于兴根 |
主分类号: | H03K17/00 | 分类号: | H03K17/00;H03K17/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 消除 半导体 漏电 装置 | ||
1、消除半导体压降和漏电流装置,其特征在于:按钮常分开关10动合触点11、12使直流电磁线圈6工作,接触器2的动触点3导通静触点4、5,使电磁线圈23有工作电压,先由动触点17导通静触点18、19的控制极G触发电流,使开关元件31T1T2导通,负载24有工作电压,二极管8提供直流电磁线圈6的工作电流后由动触点20导通并联在静触点21、22开关元件31的T1T2极消除开关元件31输出端压降。按钮常合开关13动断触点14、15,使电磁线圈23无电流通过,先由动触点20关断静触点21、22,后由动触点17关断静触点18、19的触发电流,阻断开关元件31T1T2电流,负载24无工作电压,直流电磁线圈6无工作电压,动触点3关断静触点4、5,消除半导体开关电器27输出端漏电流。
2、按权利要求1所述的装置其特征在于:直流电磁线圈6的二端串联二极管8并联在负载24两端,二极管8、9同极连接在直流电磁线圈6。
3、按权利要求1所述的装置其特征在于:动触点20与静触点21、22的开距最佳4~10mm,大于动触点17与静触点18、19的最佳开距1~3mm。
4、按权利要求1所述的装置其特征在于:接触器2、16的多个动触点2,17、20及对应的静触点4、5,18、19、21、22可以组合多相消除半导体压降和漏电流装置。
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