[发明专利]光谱分析方法和分析系统

权利要求书

1．一种光谱分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

指定样品中多种元素作为监测元素；

多次激发样品；

每次所述样品被激发时检测所述监测元素和待测元素的谱线光强；

存储所检测到的谱线的光强；

基于所述存储的数据得到所述监测元素的谱线光强的分布并根据所述分布确定所述监测元素的谱线光强的有效区；

只要所述监测元素的谱线光强在依据所述存储数据确定的有效区内就累加各次激发时的所述待测元素的谱线光强。

2．如权利要求1所述光谱分析方法，其特征在于，所述确定步骤中包括确定所述监测元素的谱线光强的平均值和偏差值。

3．如权利要求1所述光谱分析方法，其特征在于，所述激发步骤是通过放电进行的。

4．如权利要求1所述光谱分析方法，其特征在于，所述激发步骤是通过激光照射进行的。

5．一种如权利要求1所述方法使用的光谱分析系统，包括：

用来使样品激发和发射的激发装置；

用来对所述样品的发射进行光谱分析的光谱分析装置；

用来检测由所述光谱分析装置在每次样品发射时光谱分析的谱线光强的检测装置；以及

用来存储谱线光强的存储装置，

其特征在于，还包括：

用于根据所述存储装置存储的数据，通过确定所述监测元素的谱线光强的平均值和偏差值来获得多种指定的监测元素的谱线光强的分布，并根据所述分布确定所述监测元素的谱线光强的有效区的确定装置；以及

用于只要所述监测元素的谱线光强在有效区内就累加各次激发时的待测元素的谱线光强的累加装置。

6．如权利要求5所述的光谱分析系统，其特征在于，所述激发装置包括放电装置。

7．如权利要求5所述的光谱分析系统，其特征在于，所述激发装置包括激光照射装置。