[实用新型]数字集成电路多值逻辑测试仪

说明书

本实用新型涉及一种数字集成电路测试仪，特别是一种用于测试数字集成电路的功能及参数的数字集成电路多值逻辑测试仪。

目前市场上见到的数字集成电路测试仪，一般只能测试数字集成电路的部分功能，不能测试其参数，如图1所示，该图是这类集成电路功能测试仪的电路框图，该功能测试仪的电路由中央处理器21、并行接口22、25，管脚电路23，显示部分26组成，被测电路24的输出状态实际上是并行接口25数据输入时所识别的逻辑状态（二值），它只能对集成电路的一般功能进行测试，但对电路的第三状态（除0、1以外的状态）无法测量，另外，所谓逻辑高电平“1”，低电平“0”的门限数值，以及该数值是否满足电路的测试条件？输入、输出负载电流变化时，输出逻辑电平是否受影响？这些都是未知数，由于上述框图中缺少参数测试部分，所以无法对电路的一般参数进行测试；上述产品虽然价格不高但不能测出集成电路参数；有些数字集成电路测试系统可以对数字集成电路的各项直流参数（连续模拟量）进行高精度测量，但售价一般在11万元以上，而且，测试成本高，需要专人维护，高级技术人员编程，操作复杂，测试时间长，即成本高昂。

本实用新型的目的是提供一种即能对数字集成电路功能进行测试，而且也能对数字集成电路的部分直流参数进行测试，并且价格低廉的数字集成电路多值逻辑测试仪。以满足用户对数字集成电路参数测试的要求。

本实用新型采取如下技术措施，为达到上述目的本实用新型采用了多值参数测试技术；主要是在逻辑测试的过程中，对集成电路的各管脚进行多值参数循环测试，测试中可提供多值测试电压、多值测试电流、多值交叉漏电流、多值输出负载电流（极性可变）、多值比较电压；利用比较器可以精确地判定二逻辑值“1、0”的域值和门限，同时可以得出域值和门限随测试电压、负载电流变化的数据，这种参数测试，基本上可满足用户的测试要求。

具体做法是在现有功能测试电路中加入有关参数测试电路，其具体电路包括：微处理器、键盘及显示部分、I／O变换部分、管脚电路、输出管脚切换部分、用于产生多个测试电压负载电流的多值参数选择切换电路、多值输出比较器；

微处理器通过数据总线与键盘、I／O变换部分、管脚电路、多值参数切换部分及多值比较器进行数据交换，微处理器接收键盘键入的被测电路的型号及待测数据，根据有关软件规定进行输入输出变换，经多值参数选择切换将选定的测试电压，负载电流施加于被测电路，并控制被测输出管脚依次切换到多值参数比较器上，并将比较结果读回到微机，显示在显示板上。

本实用新型的效果：采取这种多值参数循环测试方法，避免象以往参数测试系统那样，对每路测试管脚都由继电器矩阵配以恒压、恒流源，以及模数转换电路A／D、D／A组成的复杂电路模式，这样可在简单电路基础上融功能、参数测试为一体，又可降低参数测试仪的成本，大大提高该测试仪的性能价格比；数字集成电路直流参数特性中输出域值、门限及输出负载变化过程中对输出域值及门限影响是测试人员最关心的，所以该实用新型的测试仪基本上能满足数字集成电路测试要求；另外，由于被测数字集成电路的好坏，最后直接反映在多值比较器的输出中，这可由微机直接判断，该电路是否失效或合乎要求，这相应提高了本测试仪的智能化程度，测试时可不需任何辅助设备，不需人工干予即可完成对被测数字集成电路的各类参数及逻辑功能测试。

为进一步阐明本实用新型的技术特征，现结合附图及实施例说明如下：

图1：现有集成电路功能测试仪电路原理框图；

图2：本实用新型的数字集成电路多值逻辑测试仪结构示意图；

图3：本实用新型的数字集成电路多值逻辑测试仪电路框图；

图4：本实用新型的数字集成电路多值逻辑测试仪的参数测试部分的电路图。

如图1所示，现有集成电路功能测试仪由计算机21、并行口22、管脚电路23、输出并行口25、转接部分27、键盘及显示部分26组成。

如图2所示，本实用新型的数字集成电路多值逻辑测试仪的实施例，它包括：外壳1、面板及电路部分；位于外壳1前面的面板上设有与相应电路相连接的键盘2、显示屏7、指示灯4、测试插座3、用于扩散由电路部分产生的热量的散热窗6；外壳内设有电路板5。

如图3所示，本实用新型的多值逻辑测试仪，其电路部分包括：微处理器31，键盘及显示接口37，I／O变换部分32，管脚电路23，输出管脚切换部分35，多值参数选择切换部分30，多值输出比较器36；测试数据及测试程序储存在微处理器31中。