[发明专利]检测纺织试验材料中杂质的方法和装置

说明书

本发明涉及检测纱线、粗纱或纱条纺织试验材料中杂质的方法，在检测时试验材料受到光照，测量从试验材料上反射的光，根据反射光的变化可推断杂质的存在。

在EP-B-0197763公开的这类方法中，设置导向缝形式并同样受到光照的围绕试验材料的背景。该背景与试验材料如此的配合，使得从试验材料反射的光和来自背景的光的总量取决于试验材料的尺寸和密度，以及其中的纤维分布。因而有可能根据反射光的变化来指示杂质的存在，而不反映纺织制品尺寸或密度的变化，或纤维分布的变化。

且不论在此工艺中，每当试验材料的种类或类型变化时，需要涉及相当大费用的调节工作，以使背景适应于试验材料，此工艺对背景的污染和时效也极其敏感。而且这两种因素纯属自然现象，在纺织企业中是不可避免的，而且在那种现实环境冲是经常发生的。

现在本发明提供的这种方法无需背景和试验材料的配合，因此避免了由背景引起差错的任何可能性。

依照本发明，这个目的达到是因为试验材料至少在二个点受到光照，而且除了反射光以外，还测量试验材料的直径或其变化，还因为这样获得的测量信号是互连的。

因此本发明基于这样的事实：从给定直径的已知试验材料反射的光是恒定的，只要试验材料的反射角度不变，也就是说，试验材料不含有杂质。通过从反射信号和从直径信号构成的量，并分析这个量，就可检测反射角的变化，并推断出杂质的存在，特别是异种纤维的存在。

因此，依照本发明方法的最佳实施例的特征在于：从反射信号和从直径信号得到一个商数，持续地检验这个商数对平均值的偏离。

而且，本发明还涉及实现所述方法的装置，该装置中有用于照明试验材料的发光装置，测量试验材料反射光和/或吸收光的接收装置以及评价测试信号的装置。

依照本发明的该装置特征是：发光装置被这样设计，使得产生位于试验材料相同部分的若干点同时受到光照或是在同一点上试验材料受到多处光照，以及设置了接收装置用以接收试验材料在所述点处的反射光和/或衰减的光。

通过下面三个典型实施例和附图更详细地说明本发明，三个附图为：

图1是表示依照本发明的装置的第一典型实施例的示意图；

图2是表示本发明第二典型实施例的示意图；

图3是表示依照本发明的装置的第三典型实施例的示意图。

在图1和图2所示的典型实施例中，同时对纱线直径和在纱线G上的反射进行测量，这些测量信号均是有关纱线上同一点的信号。测量区不大于0.5毫米。这是因为典型异种纤维是缠绕在纱线上的，纱线的绞合的典型值大约为每米1000绞。不同时在纱线上一点进行测量，而是在X和Y两点上进行测量也是可以的，将在较前一点X处测量结果存入，并以这种方式使二次测量同步，即，正当先前在x处测量的纱线测量区经过Y时，在Y点进行测量。

从有关反射和直径这两个信号构成一个商数，与正比于纱线直径的反射相反、这个商数在假如纱线的反射度保持不变时应与直径的可能粗细变化无关。因为反射度取决于纤维材料，只有当反射度不同于纤维材料反射度的缺陷，即是说例如异种纤维通过测量点时所述商数才发生变化。反射对直径的商数值可以通过在较长一段纱中连续取平均值而求得。该参考值指定为相应的触发阈值，并当测量信号超过平均值时，这表示有异种纤维或比待测的纤维材料亮些或暗些的其他杂质。

对直径的测量最好用与反射测量的相同光学方法，尤其是通过直射光或使用遮光法的透射光进行。在后者例子中，稍有漫射的光照要比平行光导向更适合，因为借此能更好地补偿在纱线边缘处光强的减弱。最好使用大面积漫射光照，在这种光照下，纱线的曲面在尽可能大的空间角下受到均匀光照。

当然，纱线直径也可以用电容法测量，此时最好使用EP-A-0401600所描述的那种类型的组合测量头，该测量装置也可以被这样变更，使得也可附加地测量例如发毛程度等参数。此时，建议使用(例如)在EP-A-0226843中例子所描述的另一种暗场光照，以补偿光强在纱线边缘处的减弱。

由于一般来说在短波光中要比在长波光中这种对比度更清晰可见，故最好使用短波光。另一方面，也有些纤维，其中异种纤维往往对红外范围的光有很强的吸收性。在这种情况下，相应地使用长波光是有利的。最好使用发光二极管作为光源，因为它们使用寿命长并且稳定，而且可以容易地被调制。光电二极管或光电倍增器可用作接收器。