[发明专利]金饰品的X射线荧光检验法无效
| 申请号： | 93117164.4 | 申请日： | 1993-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1037713C | 公开（公告）日： | 1998-03-11 |
| 发明（设计）人： | 李景春;董鼎新;许剑浩;陈风琴;沈洪涛 | 申请（专利权）人： | 中国石化大庆石油化工总厂 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 163714 黑龙江省大*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 金饰 射线 荧光 检验 | ||
【权利要求书】：
1.一种测定金饰品的X射线荧光检验法，包括下列步骤：
(1)在确定条件下制作标准样品的校正曲线。
分别测定标准样品中各元素的X射线荧光强度，按纯金饰品、合金饰品和低档合金饰品的元素分布范围分三段计算X射线荧光计数强度与元素含量间的相关系数，用最小二乘法做线性回归，确定各元素诸段标准校正曲线的斜率(bi)及含量截距(ci)；
(2)测定样品各元素的X射线荧光强度，计算各元素的假含量Xi(假)和近似含量Xi(近)。
样品不做任何处理，直接测得各元素X射线荧光强度；先制备各元素包括样品含量范围的过原点线性近似校正曲线，并应用它和测得的样品X射线荧光强度计算元素“假含量”Xi(假)，归一处理这些假含量，便可获得各元素的近似含量Xi(近)：
(3)变换标准校正曲线的斜率，计算样品各元素的可信含量Xi(可)
(4)对元素可信含量再做归一处理，获得各元素报出含量值Xi(报)
上面各式中，Xi为各测定元素的百分含量。
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