[发明专利]II-VI族半导体激光器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 95100650.9 申请日: 1995-02-23
公开(公告)号: CN1113355A 公开(公告)日: 1995-12-13
发明(设计)人: N·山田 申请(专利权)人: 惠普公司
主分类号: H01S3/18 分类号: H01S3/18;H01S3/19
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 萧掬昌,马铁良
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: ii vi 半导体激光器 及其 制造 方法
【说明书】:

发明涉及Ⅱ-Ⅵ族半导体激光器。更具体地说,本发明涉及以MgZnSSe、CdZnSSe或MgCdZnSSe为基本原料,具体性能优异、阈值电压低、工作电压低的一种Ⅱ-Ⅵ族半导体激光器,且涉及这种激光器的制造方法。

近几年来,固态区分子束外延(MBE)法、金属有机物汽相外延(MOVPE)法和气态区MBE法先后开发出来了,而且在制造Ⅱ-Ⅵ族半导体激光器时用这些方法生成晶体。

在应用固态区MBE法的晶体制造设备中,基片固定在大致装在一个反应室中央的夹持器上。用高速泵(例如离子泵)将反应室抽成并维持在超高真空状态。然后用在基片上生长晶体所需的元素和掺质轰击基片。元素和掺质以射束的形式从相应的发射元(即加热炉)发射出来,经各种物理和化学过程,在基片上形成一个接一个的重叠层。关闭和打开装设在各发射元发射口的闸门可以使超晶格便于生成,而且可以控制异质结激光器原子级的界面厚度。在基片上形成多层结构的过程中能否吸附各元素和掺质,其条件取决于若干因素,例如基片的温度,基片的表面情况和元素或掺质的类型。

用固态区MBE法生长晶体时,可以形成任何基片晶体的各种化合物或混合晶体,而且还可以精确控制晶体结构元素或掺杂的供应量。在气源MBE法中,气源代替了固态区MBE法中使用的固体源。这两种方法中晶体的生长都可以用例如各种电子束衍射器、扫描电子显微镜和分析仪等加以监控。

MOMBE法是在超高真空室内采用有机金属材料的一种晶体生长方法,有机金属材料代替了MBE法中使用的固体源或气源。通常,这类有机金属材料在液化或气化之后也是发射出去的。因此,这里把气源MBE和MOMBE总称为“气源MBE”。

气源MBE和固态区MBE一样,也能生成多元素混合晶体和超晶格,但由于气源MBE必须把气体分子或有机金属分子渗入所发射的物质中,因而发射元的结构和吸附条件(例如真空室内的温度和压力)与固态区MBE中采用的略有不同。

上面所说的MOVPE,在高温下使有机金属材料起反应,因而可以使若干类型的化合物晶体及其混合晶体外延生长。

固态区MBE能制造出层状结构高度精确控制的Ⅱ-Ⅵ族半导体激光器。但这种方法制造出来的激光器,阈值电压Vth高(通常15至30伏),因而提高了激光器各电极之间的电阻。电阻之所以增加,在很大的程度上是由于P型顶层与各电极之间形成的肖特基势垒引起的。其后果是,激光器的耗电量特大,产生过量的热,因而更迫切需要加大散热器的容量,从而增大了激光器的体积,同时缩短了激光器的使用寿命。

至于气源MBE,虽然能制造出阈值电压Vth低(通常2.5至7伏)的激光器,但在晶性方面有缺点,因而迄今未付诸实用。

气源MBE和固态区MBE彼此类似,都要求超高真空,而且其它特点也类似,因而同一台设备可以采用两种方法。但用气源MBE制造半导体激光器时,真空室内仍然存在环境气体或气源。这正是迄今没有混合使用气源MBE和固态区MBE来制造半导体激光器的一个原因。

本发明克服了现有技术半导体激光器制造方法的上述缺点,提供了一种例如以MgZnSSe、CdZnSSe或MgCdZnSSe为基本原料的Ⅱ-Ⅵ族半导体激光器及其制造方法,其中激光器被覆层与电极之间的肖特基电阻减小了,而且不存在对激光器性能有害的影响。本发明提供的Ⅱ-Ⅵ族元素半导体激光器,性能优异,阈值电压低,工作电压也低。在本发明的最佳实施例中,基片采用了n型基片,顶层是P型层。

按本发明制造的Ⅱ-Ⅵ族元素半导体激光器,其含有晶体结构元素和掺杂的吸附层在n型基片上以晶体的形式依次形成。从头一层吸附层到倒数第二层的P型吸附层是用固态区MBE法形成,最后一层的P型吸附层则是用气态区MBE或MOVPE形成的。在本发明的最佳实施例中,最后一层的P型吸附层是在富有Ⅱ族元素的情况下形成的。

图1是本发明半导体激光器的多层结构剖面图。

图2是按本发明制造图1所示的半导体激光器时所使用的设备的示意图。

本发明克服了现有技术的上述种种缺点,提供了一种以例如MgZnSSe、CdZnSSe或MgCdZnSSe为基本原料的Ⅱ-Ⅵ族半导体激光器,其中激光器顶层与电极之间的肖特基电阻减小了,而且不存在对激光器性能有害的影响。在本发明的最佳实施例中,基片采用了n型基片,顶层是P型层。

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