[发明专利]总线分析器及其测试内总线的方法无效
申请号: | 95119222.1 | 申请日: | 1995-11-10 |
公开(公告)号: | CN1093288C | 公开(公告)日: | 2002-10-23 |
发明(设计)人: | 宋庸镐 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/00 | 分类号: | G06F11/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 范本国 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 总线 分析器 及其 测试 方法 | ||
1.一种在多个处理器板由系统总线共同连接的多处理器系统中用于测试系统总线的总线分析器,包括:
总线测试器,用于在测试上述系统总线时存储用来测试上述系统总线的数据,并向上述系统总线输出测试数据;
跟踪存储器,用于顺序地写入从上述系统总线输出的测试数据;
存储器控制器,用于控制上述跟踪存储器,使之根据跟踪信号存储来自上述系统总线的测试数据,并根据触发信号停止存储该数据;以及
用于以下目的的控制器:产生要被输出到上述存储器控制器的上述跟踪和触发信号,读出存储在上述跟踪存储器中的测试数据,并将读出的数据同从上述总线测试器所输出的测试数据相比较。
2.如权利要求1中所述的用于测试系统总线的总线分析器,其中上述总线测试器包括:
用于存储测试数据的第一存储器;
用于存储有关要被输出到上述系统的测试数据的量信息的第二存储器;以及
测试控制器,用于控制上述第一与上述第二存储器,以便向上述系统总线反复输出对应于存储在上述第二存储器中的测试数据量的存储在上述第一存储器中的上述测试数据量。
3.如权利要求2中所述的用于测试系统总线的总线分析器,其中用于存储测试数据的每一寄存器的位数等于上述系统总线的信号线路的数目。
4.如权利要求2中所述的用于测试系统总线的总线分析器,其中用于存储测试数据的每一寄存器的位数小于上述系统总线的信号线路的数目,上述总线分析器还包括对于上述系统总线的一次测试用于向上述系统总线反复输出上述第一存储器的上述测试数据的分配器。
5.用于测试总线分析器中的内总线的方法,该总线分析器用于在多个处理器板由上述系统总线共同连接的多处理器系统中测试系统总线,该方法包括以下步骤:
产生待存储到第一存储器用于测试上述系统总线的数据;
输出存储在上述第一存储器中的测试数据到上述系统总线;
产生用于跟踪上述系统总线的上述测试数据的跟踪信号;
根据待顺序存储到跟踪存储器中的跟踪信号跟踪上述系统总线的上述测试数据;
产生一触发信号以便停止跟踪;
根据上述触发信号停止向上述跟踪存储器存储上述被跟踪数据;
以及比较上述第一存储器中的上述测试数据与上述跟踪存储器中的上述被跟踪数据。
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