[发明专利]自动操纵装置和利用它测量器件的方法无效
申请号: | 95191215.1 | 申请日: | 1995-10-02 |
公开(公告)号: | CN1102239C | 公开(公告)日: | 2003-02-26 |
发明(设计)人: | 后藤敏雄;菊池有朋;叶山久夫 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01R31/26 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 杨梧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 操纵 装置 利用 测量 器件 方法 | ||
1.一种器件自动操纵装置,用于将器件从装载器部分输送到测试部分,在该测试部分中测试上述器件的电学特性,而在测试后,将测试过的器件从测试部分输送到卸载器部分,随后在测试结果的基础上对测试过的器件进行分类,上述器件操纵装置包括:
一种设置在所述装载器/卸载器部分和测试部分之间的检验器件外观用的器件外观自动检验装置,该器件外观检验装置装有亮度可控的照明机构,结构紧凑,具有高分辨率;
根据测试结果按分类对被测试过的器件排列的排列装置;
将由所述排列装置排列的、需进行外观检测的一类被测试过的器件输送到所述器件外观自动检测装置的装置;
因此所述外观自动检测装置只检测需检测的一类被测试过的器件的外观;然后进行了外观检测的器件从所述外观自动检测装置被输送到所述卸载器部分。
2.根据权利要求1的器件操纵装置,其中,上述器件外观自动检验装置包括:
一个具有多个亮度可控的发光元件的照明装置;
一个照相机,用于拍摄器件的外观并将拍摄的图像转换成输出用的像素数据;以及
一个用于使器件固定就位的器件外观检验架。
3.根据权利要求1或2的器件操纵装置,其中,上述器件外观自动检验装置适合于相对于多个预定的测量项目测量器件的外观,并且测量那些在上述测试部分中进行的电学特性测试结果的基础上已被判定为合格物品的器件的外观。
4.根据权利要求1或2的器件操纵装置,其中,上述器件外观自动检验装置适合于相对于多个测量项目测量器件的外观,上述测量项目被分成组,上述器件外观检验装置包括多个检验机构,每个机构适合于相对于上述测量项目组中有关一个组测量器件的外观。
5.一种利用器件自动操纵装置来测量器件的方法,该器件自动操纵装置用于将器件从装载器部分输送到测试部分,在该测试部分中测试上述器件的电学特性,而在测试后,将测试过的器件从测试部分输送到卸载器部分,随后在测试结果的基础上对测试过的器件进行分类,上述方法包括下列步骤:
在上述装载器部分中安置多个装有器件的盘子并开始测量;
将上述装载器部分中最上面的盘子出来的器件输送到上述测试部分;
将来自器件测试器的预定测试信号外加到上述测试部分中的器件上,以测量其电学特性;
将被测试过的器件分成需要进行外观检测的一类和数类,以及不需要外观检测的一类或数类;
将那些已被分类到需要外观检验的类别中的器件输送到外观检验部分中;
将那些已被分类到不需要外观检验的类别中的器件输送到卸载器部分中;
在上述外观检验部分中用照相机拍摄器件的外观,同时用一个具有多个亮度可控的发光元件的照明装置照射器件;
将拍摄的图像转换成像素数据并输出上述像素数据;以及
在所述卸载器部分,在电学特性测试结果数据和外观检验数据的基础上确定测试过的器件的类别,然后将器件输送到每个类别的相应的器件存放机构中。
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