[发明专利]中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料无效

专利信息
申请号: 96118943.6 申请日: 1996-12-23
公开(公告)号: CN1053518C 公开(公告)日: 2000-06-14
发明(设计)人: 梁力平;陈锦清;祝忠勇;欧明;杨仕基;莫天桥;庞溥生;李富胜;吴小飞;赖永雄;宋子峰 申请(专利权)人: 广东肇庆风华电子工程开发有限公司
主分类号: H01G4/12 分类号: H01G4/12;C04B35/468
代理公司: 广州市专利事务所 代理人: 罗毅萍
地址: 526020 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 烧结 高频 多层 电容器
【权利要求书】:

1、一种中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料,其特征在于其配方组成(重量比)为、

四钛钡主晶相(BaO·4TiO2)      95~97%

硼硅铅玻璃                    2.9~5%

其中硼硅铅玻璃组成为:B2O3  20~30%

                    SiO2    5~10%

                    PbO     45~75%

改性物:0.1~0.5%由碳酸锰(MnCO3)、二氧化锡(SnO2)、二氧化锆(ZrO2)的一种或几种组成。

2、根据权利要求1所述的中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料,其特征在于其配方组成(重量比)为,

BaO·4TiO2    95~97%

硼硅铅玻璃    2.7~4.7%

改性物:

ZrO2         0.1%

SnO2         0.1%

MnCO3        0.1%

3、根据权利要求1所述的中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料,其特征在于其配方组成(重量比)为:

BaO·4TiO2    95.5~96.5%

硼硅铅玻璃    2.9~4.2%

改性物:

ZrO2         0.2%

MnCO3        0.1%

4、根据权利要求1或2或3所述的中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料,其特征在于其最佳烧成温度是1120摄氏度。

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