[发明专利]测量残存的可辐射固化的单体或低聚物的方法

权利要求书

1.一种测量辐射固化的涂层中荧光剂发出荧光的辐射能量强度的方法，所述的方法包括下列步骤：

a)提供一层涂层，所述的涂层包括：

1)可辐射固化的单体或低聚物；和

2)激励能量波长为λ₂的荧光剂，所述的荧光剂的荧光辐射能量为λ₃；

b)通过暴露于辐射能量使所述的涂层固化，由此改变荧光剂暴露于波长λ₂时理应发射的荧光的辐射能量强度；

c)用波长为λ₂的激励能量照射辐射固化了的涂层，其特征在于：

激励能量有50％或以上被辐射固化的涂层中75μm厚的上层所吸收；

d)测量荧光剂发射波长λ₃荧光的辐射能量的强度。

2.一种测量辐射固化的涂层中残留的可辐射固化的单体量或低聚物量的方法，所述的方法包括下列步骤：

a)提供一层涂层，所述的涂层包括：

1)可辐射固化的单体或低聚物；和

2)激励能量波长为λ₂的荧光剂，所述的荧光剂的荧光辐射能量为λ₃，其特征在于：波长为λ₃的以荧光发射的辐射能量强度是随所述涂层中未反应的可辐射固化的单体或低聚物的浓度而变化的；

b)通过暴露于辐射能量使所述的涂层固化；

c)用波长为λ₂的激励能量照射辐射固化了的涂层，激励能量有50％或以上被辐射固化的涂层中75μm厚的上层所吸收；

d)测量荧光剂发射的波长λ₃的荧光的辐射能量强度；

e)根据强度测量结果，确定存在于辐射固化的涂层中的残留可辐射固化的单体或低聚物的量。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：采用所述的方法测量固化程度等于或大于90％时的可辐射固化的单体。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述的可辐射固化的单体或低聚物吸收波长为λ₁的辐射能量，λ₁小于300nm，可辐射固化的单体或低聚物的固化产品吸收波长λ₁的辐射能量比可辐射固化的单体或低聚物吸收的少。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于：所述的可辐射固化的单体包括(甲基)丙烯酸酯基。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于：所述的可辐射固化的单体是从丙烯酸异辛酯、丙烯酸、N，N-二甲基丙烯酰胺及其混合物组成的组中选出的。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述的可辐射固化的单体是丙烯酸异辛酯。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述的可辐射固化的单体是丙烯酸。

9.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述的可辐射固化的单体是丙烯酸异辛酯和丙烯酸的混合物。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于：λ₁约在210至260nm的范围。

11.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述的荧光剂是从联苯、芴、n-癸基芴、9，9-二丁基芴和9-癸基，9-甲基芴组成的组中选出的。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于：所述的荧光剂为联苯。

13.如权利要求12所述的方法，其特征在于：λ₂约在200至300nm的范围。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于：λ₂约在235至285nm的范围。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于：λ₂约为257nm。

16.如权利要求12所述的方法，其特征在于：λ₃约在290至340nm的范围。