[发明专利]绝缘层上有硅的动态随机存取存储器及其制作方法无效

专利信息
申请号: 97102121.X 申请日: 1997-01-09
公开(公告)号: CN1063289C 公开(公告)日: 2001-03-14
发明(设计)人: 孙世伟 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 杨梧
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 绝缘 层上有硅 动态 随机存取存储器 及其 制作方法
【权利要求书】:

1、一种绝缘层上有硅的动态随机存取存储器,该存储器包括:

(a)一基底,具有硅表层,并覆盖着硅氧化埋层;

(b)一场绝缘区域,形成于该基底的表面,延伸过该基底的硅表层,并与该硅氧化埋层接触,限定出该硅表层上的有源器件区;

(c)一第一和第二源/漏极区,形成于该有源器件区之中,为该硅表层上的通道区:

(d)一栅极氧化层,形成在该通道区上;

(e)一栅极电极,在栅极氧化层上;

(f)一沟槽,穿过该第一和第二源/漏极区,通过硅表层且进入硅氧化埋层中:

(g)一下电容电极,延伸至该沟槽;

(h)一介电层,在该下电容电极上;以及

(i)一上电容电极。

2、如权利要求1所述的存储器,其中该下电容电极包含多晶硅的第一层,连接于该第一源/漏极区和该硅氧化埋层。

3、如权利要求2所述的存储器,其中该下电容电极延伸过该硅氧化埋层和该多晶硅的第一层,连接于该硅氧化埋层之下的基底。

4、如权利要求3所述的存储器,其中该下电容电极延伸进入在该硅氧化埋层之下的基底,深度至少为1000埃。

5、如权利要求2所述的存储器,其中该场绝缘区域包含硅氧化物。

6、如权利要求2所述的存储器,其中该场绝缘区域包含硅氧化物。

7、如权利要求6所述的存储器,包括一绝缘薄膜,覆盖在栅极上,沟槽延伸过绝缘薄膜,而下电容电极延伸于该绝缘薄膜表面。

8、一种绝缘层上有硅的动态随机存取存储器的制作方法,该方法的步骤包括:

(a)提供一基底,具有硅表层,并覆盖着硅氧化埋层;

(b)在该硅表层形成一场绝缘区域,以限定出该硅表层上的有源器件区;

(c)在该有源器件区域上形成一氧化层;

(d)在该氧化层上形成多个栅极;

(e)在该硅表层上形成一第一和第二源/漏极区;

(f)在该栅极上沉积一绝缘层;

(g)在该绝缘层上利用已经开放在第一源/漏极区上的物质形成一光致抗蚀剂掩模;

(h)穿过该绝缘层、第一源/漏极区、该硅表层和硅氧化埋层,蚀刻多个沟槽;

(i)沉积一第一多晶硅层以排列该沟槽,并对该第一多晶硅层构图,形成一下电容电极;

(j)在该下电容电极上提供一介电层;以及

(k)沉积一第二多晶硅层,以形成一上电容电极。

9、如权利要求8所述的方法,其中该第一和第二源/漏极区通过在基底中注入杂质而形成的。

10、如权利要求8所述的方法,其中该第一和第二源/漏极区利用该栅极作部分掩模,在该栅极两侧形成该第一和第二源/漏极区。

11、如权利要求8所述的方法,其中该下电容电极形成时与该第一源/漏极区相接触。

12、如权利要求9所述的方法,其中该下电容电极中掺杂有杂质,且在沉积该第一多晶硅层之后,通过退火可以将杂质从该下电容电极扩散到该硅表层中。

13、如权利要求9所述的方法,其中该基底形成在注入氧化物离子的硅基底上。

14、如权利要求8所述的方法,其中该沟槽穿过该第一源/漏极区,并且遗留部分的该第一源/漏极区在该沟槽的两侧。

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