[发明专利]绝缘层上有硅的动态随机存取存储器及其制作方法无效
申请号: | 97102121.X | 申请日: | 1997-01-09 |
公开(公告)号: | CN1063289C | 公开(公告)日: | 2001-03-14 |
发明(设计)人: | 孙世伟 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 杨梧 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝缘 层上有硅 动态 随机存取存储器 及其 制作方法 | ||
1、一种绝缘层上有硅的动态随机存取存储器,该存储器包括:
(a)一基底,具有硅表层,并覆盖着硅氧化埋层;
(b)一场绝缘区域,形成于该基底的表面,延伸过该基底的硅表层,并与该硅氧化埋层接触,限定出该硅表层上的有源器件区;
(c)一第一和第二源/漏极区,形成于该有源器件区之中,为该硅表层上的通道区:
(d)一栅极氧化层,形成在该通道区上;
(e)一栅极电极,在栅极氧化层上;
(f)一沟槽,穿过该第一和第二源/漏极区,通过硅表层且进入硅氧化埋层中:
(g)一下电容电极,延伸至该沟槽;
(h)一介电层,在该下电容电极上;以及
(i)一上电容电极。
2、如权利要求1所述的存储器,其中该下电容电极包含多晶硅的第一层,连接于该第一源/漏极区和该硅氧化埋层。
3、如权利要求2所述的存储器,其中该下电容电极延伸过该硅氧化埋层和该多晶硅的第一层,连接于该硅氧化埋层之下的基底。
4、如权利要求3所述的存储器,其中该下电容电极延伸进入在该硅氧化埋层之下的基底,深度至少为1000埃。
5、如权利要求2所述的存储器,其中该场绝缘区域包含硅氧化物。
6、如权利要求2所述的存储器,其中该场绝缘区域包含硅氧化物。
7、如权利要求6所述的存储器,包括一绝缘薄膜,覆盖在栅极上,沟槽延伸过绝缘薄膜,而下电容电极延伸于该绝缘薄膜表面。
8、一种绝缘层上有硅的动态随机存取存储器的制作方法,该方法的步骤包括:
(a)提供一基底,具有硅表层,并覆盖着硅氧化埋层;
(b)在该硅表层形成一场绝缘区域,以限定出该硅表层上的有源器件区;
(c)在该有源器件区域上形成一氧化层;
(d)在该氧化层上形成多个栅极;
(e)在该硅表层上形成一第一和第二源/漏极区;
(f)在该栅极上沉积一绝缘层;
(g)在该绝缘层上利用已经开放在第一源/漏极区上的物质形成一光致抗蚀剂掩模;
(h)穿过该绝缘层、第一源/漏极区、该硅表层和硅氧化埋层,蚀刻多个沟槽;
(i)沉积一第一多晶硅层以排列该沟槽,并对该第一多晶硅层构图,形成一下电容电极;
(j)在该下电容电极上提供一介电层;以及
(k)沉积一第二多晶硅层,以形成一上电容电极。
9、如权利要求8所述的方法,其中该第一和第二源/漏极区通过在基底中注入杂质而形成的。
10、如权利要求8所述的方法,其中该第一和第二源/漏极区利用该栅极作部分掩模,在该栅极两侧形成该第一和第二源/漏极区。
11、如权利要求8所述的方法,其中该下电容电极形成时与该第一源/漏极区相接触。
12、如权利要求9所述的方法,其中该下电容电极中掺杂有杂质,且在沉积该第一多晶硅层之后,通过退火可以将杂质从该下电容电极扩散到该硅表层中。
13、如权利要求9所述的方法,其中该基底形成在注入氧化物离子的硅基底上。
14、如权利要求8所述的方法,其中该沟槽穿过该第一源/漏极区,并且遗留部分的该第一源/漏极区在该沟槽的两侧。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的