[发明专利]多阶半微分交流示波计时电位仪

权利要求书

1、一种由恒流源、电解池、微分器和示波器等组成的多阶半微分交流示波计时电位仪，其特征是：该电位仪设置有半微分器，并与IR降扣除电路和微分器D1相连接；三个低通滤波器F1、F2、F3截止频率分别设定为2500Hz、3000Hz、4000Hz；该仪器将2次或2.5次微分示波信号通过反馈线路FBV反馈回1次或1.5次微分器的输入端。

2、根据权利要求1所述的一种多阶半微分交流示波计时电位仪，其特征是：半微分器由半微分装置和直流补偿装置组成。

3、根据权利要求1所述的一种多阶半微分交流示波计时电位仪，其特征是：IR降扣除电路由运算放大器和电阻组成，其中运算放大器I、II的负输入端分别与其输出端相连接，运算放大器I、II的输出端分别与运算放大器III的负输出端、正输入端通过电阻R21、R22相连接，运算放大器III的正输入端与电阻R23相连，R23的另一端接地，运算放大器III负输入端与输出端通过电阻R24相连，运算放大器III的输出端与运算放大器IV负输入端通过电阻R25相连，运算放大器IV的负输入端与输出端通过R26相连，运算放大器IV的正输入端分别与电阻R27、R28相连，电阻R27的另一端接地，电阻R28的另一端与电位器R29的滑动端相连。

4、根据权利要求2所述的一种多阶半微分交流示波计时电位仪，其特征是：半微分装置与直流补偿装置通过转换开关K相连，半微分装置由电阻、电容器和运算放大器组成，其各元件参数为：R34为1K，R35为22K，R36为2K，R37为6.3K，R38为63K，R39为630K，R40为8.3M，R41为2K，R42为20K，R43为200K，R44为2000K，R46为100K，C5为0.5μF，C6为1.6μF，C7为16μF，C8为160μF，C9为0.5μF，C10为5μ F，C11为50μF，C12为500μF，C13为2080μF。

5、根据权利要求2所述的一种多阶半微分交流示波计时电位仪，其特征是：直流补偿装置由电阻、运算放大器和二极管组成，其中运算放大器IX的负输入端与输出端通过R49相连，R49阻值为100K，阻值为100K的电阻R48的一端与运算放大器IX的正输入端相连，另一端接地，运算放大器IX的输出端与运算放大器X的负输入端通过阻值为10K的电阻器R50相连，运算放大器X的负输入端与二极管D2的正极端相连，D2的负极端与运算放大器X的输出端相连，运算放大器X的正输入端接地，开关K的接线柱4分别与阻值为62K的电阻R47和电位器R51的滑动端相连，R51一端与电阻R52相连，另一端与阻值为47K的电阻R53相连。