[发明专利]半导体器件封装无效
申请号: | 97111853.1 | 申请日: | 1997-06-19 |
公开(公告)号: | CN1092843C | 公开(公告)日: | 2002-10-16 |
发明(设计)人: | 金泰亨;朴泰成;赵仁植;崔憘国 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L23/29 | 分类号: | H01L23/29;H01L23/495;H01L23/50 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 谢丽娜 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 封装 | ||
1.一种半导体器件封装,包括:
一个半导体芯片;
多个具有槽的内引线,所述槽形成在安装到半导体芯片的下表面的内引线的上表面上;
将半导体芯片的下表面安装到内引线的上表面的粘结装置;
将半导体芯片电连接到分别对应的内引线的电连接装置;
密封半导体芯片、内引线、粘结装置和电连接装置的密封剂;
与分别对应的内引线为一体并从密封剂中伸出的多个外引
线。
2.如权利要求1所述的半导体器件封装,其中所述槽被密封剂填充。
3.如权利要求1所述的半导体器件封装,其中所述槽在内引线上表面的一半处的宽度方向内形成。
4.如权利要求1所述的半导体器件封装,其中所述槽的厚度为所述内引线厚度的1/2。
5.如权利要求1所述的半导体器件封装,其中所述槽的长度为所述内引线长度的1/3。
6.如权利要求1所述的半导体器件封装,其中内引线端部的下表面被部分腐蚀。
7.如权利要求6所述的半导体器件封装,其中所述内引线端部的长度为槽长度的1/2。
8.如权利要求1所述的半导体器件封装,其中所述密封剂为环氧树脂模塑混合物。
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