[发明专利]液晶面板及其检查方法无效

专利信息
申请号: 97113725.0 申请日: 1997-07-04
公开(公告)号: CN1083111C 公开(公告)日: 2002-04-17
发明(设计)人: 小林由文 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G02F1/1343 分类号: G02F1/1343
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 姜郛厚,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 液晶面板 及其 检查 方法
【权利要求书】:

1.一种液晶面板,它具有将液晶夹在中间的一对相对的透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极,该液晶面板的特征在于:

对上述多个电极设定1个或多个检查区,

在1个或多个检查区内包含按一定的检查间隔排列的第1电极和按与该检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极,

这些第2电极与包含它们的检查区或除此以外的其它检查区内所包含的检用电极相连接,

该检查用电极按包含它们的检查区中固有的一定的检查间隔排列。

2.根据权利要求1所述的液晶面板,其特征在于:上述检查间隔相当于检查用探针之间的间隔,该检查用探针具有只能与检查对象的1个电极接触的接触部分。

3.一种液晶面板的检查方法,用来检查具有将液晶夹在中间的一对相对的透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极的液晶面板中的这些电极,其特征在于:

根据按规定的检查间隔排列的多个检查探针,形成1个或多个检查区,

使上述检查探针与1个检查区内含有的多个电极即按上述检查间隔排列的多个第1电极接触进行检查,

在该检查区内当存在按与上述检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极时,

便使用在包含这些第2电极的检查区或除此之外的其它检查区内包含的检查用电极即与上述第2电极连接的检查用电极进行检查,

这些检查用电极按包含它们的检查区中固有的一定的检查间隔排列。

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