[发明专利]液晶面板及其检查方法

说明书

本发明涉及具有将液晶夹在中间的一对相对透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极的液晶面板。另外，还涉及检查在该液晶面板内的透明基板上形成的多个电极的检查方法。

一般情况下，液晶面板是这样制造的，即利用密封剂将一对透明基板之间留有一定间隙粘接起来，并将液晶封入该间隙内。而且通过将液晶驱动用IC、背照光、盒等附带器件安装在该液晶面板上，制成液晶显示装置。

在该液晶面板中，将电压加在液晶上用的透明电极分别在各透明基板上形成。这些透明电极呈带状，或呈数字、字符、特定的图样等特殊形状。由于这些透明电极非常细小，所以往往会互相接触而发生短路，因此，制造液晶面板时，必须预先检查多个透明电极之间是否发生短路。

进行这种检查时，以往是使按规定间隔排列的2个检查探针分别与1个1个的透明电极、通常是与相邻的2个透明电极接触，检查两者之间是否导通而发生短路。例如，特开昭61-194484号公报所公开的检查方法是使检查探针与按一定间隔排列的检查用图形接触，进行短路等的检查。

可是，在上述现有的检查方法中，全部检查用的图形都是以一定的间隔排列的，具体地说，都是以与检查探针的间隔一致的一定间隔排列的，没有预料其间隔变化的情况。因此，当检查用的图形的间隔有偏差时，就必须使检查探针之间的间隔对应于该偏差而变化。可是，将检查探针这样配置是非常困难的。而且，这种特殊配置形态的检查探针虽然能适用于特殊电极图形，但不能用于其它电极图形，通用性显著下降。

作为使用检查探针的检查方法，是通过使按规定的检查间隔配置的2个检查探针相对于作为检查对象的多个透明电极进行扫描移动来进行检查的方法。该检查方法在全部检查用图形按检查探针之间的间隔即检查间隔排列的情况下能无障碍地进行检查，但当在检查探针的扫描区域内即检查区域内如果存在按与该检查间隔不同的间隔排列的检查用图形时，就不能使2个检查探针与这些检查用图形接触，从而不能对这些检查用图形进行检查。

本发明就是鉴于现有的检查方法中存在的上述问题而开发的，其目的在于即使在检查对象的透明电极中存在间距不同的透明电极时，也能用按一定间隔排列的通用的检查探针对全部电极无障碍地进行检查。

为了达到上述目的，本发明的液晶面板具有将液晶夹在中间的一对透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极，该液晶面板的特征在于：

(1)对上述多个电极设定1个或多个检查区，

(2)在1个或多个检查区内包含按一定的检查间隔排列的第1电极和按与该检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极，

(3)这些第2电极与在包含它们的检查区或除此以外的其它检查区内所包含的检用电极相连接，

(4)该检查用电极按包含它们的检查区中固有的一定的检查间隔排列。

在上述结构中，所说的″检查区″与例如使2个检查探针对作为检查对象的多个电极进行扫描移动时的该扫描移动区一致。另外，使用将多个检查探针按一定间隔排列的检查装置时，这些检查探针排列的区域称为检查区，而且，所说的″检查间隔″在使用2个检查探针时相当于这2个检查探针之间的间隔，另一方面，在使用多个检查探针时相当于各个检查探针之间的间隔。

当在1个检查区内包含间隔即间距不同的电极时，可用该检查探针对按与检查探针的间隔一致的间隔配置的电极群进行检查。而且，虽然对间隔不同的其它电极群不能用该检查探针进行检查，但能用与这些电极连接的检查用电极进行检查。这些检查用电极当然是按包含它们的检查区中固有的检查间隔排列的，所以能无障碍地进行检查。

连接第2电极的检查用电极能在包含第2电极的检查区中形成，或者也可以在与包含第2电极的检查区不同的另外设定的检查区中形成。

本发明的液晶面板的检查方法是一种对具有上述这样的电极图形结构的液晶面板进行的检查方法，具体地说，其特征在于：

(1)根据按规定的检查间隔排列的多个检查探针，形成1个或多个检查区，

(2)1个检查区内含有的多个电极，使上述检查探针与按上述检查间隔排列的多个第1电极接触进行检查，

(3)在该检查区内当存在按与上述检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极时，

(4)便使用在包含这些第2电极的检查区或除此之外的其它检查区内包含的检查用电极即与上述第2电极连接的检查用电极进行检查，而且

(5)这些检查用电极按照与构成包含它们的检查区的检查探针的检查间隔一致的间隔排列。

图1是本发明的液晶面板的一实施形态的分解斜视图。

图2是表示将图1所示的液晶面板组装后的状态的斜视图。