[发明专利]可预老化测试的动态存储器模块及其电路板

权利要求书

1.一种可预老化测试的动态存储器电路板模块，它至少包括：

多个集成电路；以及

一印刷电路板，包括一模块电路板层与一老化测试电路板层，并将该印刷电路板划分为一模块区与一辅助电路区，并且该模块电路板层与该老化测试电路板层被一接地面分开隔离；

其中，这些集成电路位于该模块电路板层的该模块区上，该动态存储器模块的模块电路布线在该模块电路板层中，该动态存储器模块的老化测试电路布线在该老化测试电路板层中，而该老化测试电路板层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该模块电路板层。

2.如权利要求1所述的动态存储器模块，其中为了防止产生天线效应，在完成该动态存储器模块的老化测试和其它测试之后，将该辅助电路区切除。

3.如权利要求1或2所述的动态存储器模块，其中这些集成电路以封装件或板上芯片或裸芯片C₄焊接的形式，组装在该模块电路板层的该模块区上。

4.一种可预老化测试的动态存储器模块，它至少包括：

多个集成电路；以及

一印刷电路板，具有由第一模块电路板层/第一老化测试电路板层/第二老化测试电路板层/第二模块电路板层组成的结构，并将该印刷电路板划分为一模块区与一辅助电路区，该第一模块电路板层与第二模块电路板层分别位于该印刷电路板两表面，该第一模块电路电路板层与该第一老化测试电路板层被一第一接地面分开隔离，该第二模块电路板层与该第二老化测试电路板层被一第二接地面分开隔离；

其中，这些集成电路分别位于所述第一模块电路板层与该第二模块电路板层的所述模块区上，该动态存储器模块的模块电路布线分别在该第一模块电路板层与所述第二模块电路板层中，该动态存储器模块的老化测试电路布线分别在该第一老化测试电路板层与该第二老化测试电路板层中，而该第一老化测试电路板层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该第一模块电路板层，该第二老化测试电路板层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该第二模块电路板层。

5.如权利要求4所述的动态存储器模块，其中为了防止产生天线效应，在该动态存储器模块老化测试和其它测试之后，将该辅助电路区切除。

6.如权利要求4或5所述的动态存储器模块，其中这些集成电路以封装件或板上芯片或裸芯片C₄焊接的形式，分别组装在该第一模块电路层与该第二模块电路层的该模块区上。

7.一种可预老化测试的动态存储器模块电路板，可直接置于一个老化测试炉中，耦接一个老化测试信号，对动态存储器进行老化测试；它至少包括：

至少一测试区，该测试区包括一个老化测试信号缓冲/分路器与多个动态存储器模块。其中，这些动态存储器模块分别并联耦接该老化测试信号缓冲/分路器，该老化测试信号缓冲/分路器耦接该老化测试信号，并将该老化测试信号缓冲分配输出至这些动态存储器模块，对这些动态存储器模块内的动态存储器进行老化测试。

8.如权利要求7所述的动态存储器模块电路板，其中该动态存储器模块包括：

多个集成电路；以及

一印刷电路板，包括一个模块电路板层与一老化测试电路板层，并将该印刷电路板划分为一模块区与一辅助电路区，并且该模块电路板层与该老化测试电路板层被一接地面分开隔离；

其中，这些集成电路位于该模块电路板层的该模块区上，该动态存储器模块的模块电路布线在该模块电路板层中，该动态存储器模块的老化测试电路布线在老化测试电路板层中，而该老化测试信号依序经由该老化测试电路板层与该辅助电路区进入该模块电路板层，对该动态存储器模块进行老化测试。