[发明专利]晶圆的固定装置及方法无效

专利信息
申请号: 97121343.7 申请日: 1997-10-21
公开(公告)号: CN1068456C 公开(公告)日: 2001-07-11
发明(设计)人: 莫自治;庄元中;杨长谋;何进渊 申请(专利权)人: 研能科技股份有限公司
主分类号: H01L21/68 分类号: H01L21/68;B41J2/135
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 竺路玲
地址: 台湾省新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 固定 装置 方法
【说明书】:

发明属于一种晶圆的固定装置及方法,尤指一种利用真空吸力固定晶圆的装置及方法。

在半导体的制造工艺中,常需要将两晶片的相对位置固定,以进行后续的制程,如欲粘合一晶圆及一平板,其步骤依序为(1)于晶圆上涂布粘着剂、(2)将平板置于晶圆上、(3)固定平板与晶圆、(4)传送经固定的晶圆与平板至加热板压合加热、(5)除去固定装置,当半导体制程已迈入深次微米时代,集成度的要求日益增加,元件与元件间的距离也逐渐缩小,此固定步骤就变得十分重要,当平板已用精密对位的方式置于晶圆上,如果因固定不慎,于传送过程中发生移位的情况,则此元件就无法使用,而降低生产线的合格率。

已知的固定方法是利用夹压装置来固定,请参阅图1,其系为己知固定晶圆方法的示意图,其中平板2己被放置于晶圆1上,使用一夹压装置3来固定此平板2与晶圆1的相对位置。此夹压装置3包含底座31、夹持部32、气压缸33及空气供应管34,利用空气供应管34控制进入气压缸33的空气量,使得上面的夹持部32往下压,以固定该平板2及晶圆1。此种装置尚可利用空气供应量来控制夹持部32施予平板2及晶圆1的压力,以针对不同强度的晶圆施以适当的夹持力;尤有甚者,以极为简易的夹具进行固定,忽略了夹持力大小的控制,此类夹具装置易因夹具旋力的不当,导致非正向力的介入,而使得平板2与晶圆1之间产生移位,或是两旁夹具施力不均,造成倾斜,同样无法妥善固定平板2与晶圆1,之前精密对位的步骤也因此功亏一篑。所以,以加压的方式来固定晶圆并无法满足固定步骤所需的要求。

本发明的主要目的在于克服已有技术的不足,提供一种晶圆的固定装置,以改善晶圆在固定时易产生移位的缺陷;同时提供其固定方法。

本发明的第三目的,即在于提供一种粘合喷墨头喷孔片的方法,妥善固定喷孔片以进行后续程序。

本发明的主要目的是这样实现的:一种晶圆的固定装置,用以固定一平板于一晶圆上,该晶圆具有数个镂空处,其特点是,该装置系包含:一基座,其系用以放置该晶圆;在该基座上设有至少一个沟槽,且每个沟槽具有一独立开口,开设于基座一侧,当该晶圆置于该基座上时,所述镂空处系对应于所述沟槽;以及一抽气设备,与所述沟槽的开口连接。

依据上述构想,晶圆的固定装置中该沟槽可为任意形状,如弯曲的长形沟槽或环形沟槽:当晶圆的固定装置中的沟槽经抽气后,其压力较佳系较周围环境低50~200mmHg。

依据上述构想,晶圆的固定装置中该装置还包含一双向阀,连接于该抽气设备及该开口间,当欲形成该真空吸力时,该双向阀系连通该开口及该抽器设备,因此气体系自该沟槽中抽出;当欲移除该真空吸力时,该双向阀系连通该开口及周围环境,因此气体系自周围环境回流至该沟槽中,以进行移除真空的程序。

依据上述构想,晶圆的固定装置中该沟槽还包含另一可闭开口,当欲形成真空吸力时,该可闭开口系处于一关闭状态,因此气体系自该沟槽中经由抽气设备抽出;当欲移除该真空吸力时,该可闭开口系处于一开启状态,因此气体系自周围环境经由可闭开口回流至该沟槽中,以进行移除真空的程序。

根据本发明的另一目的,其构想在提供一种晶圆的固定方法,用以固定一平板于一晶圆上,该晶圆具有数个镂空处,其步骤系包含:将该晶圆置于一具有数个沟槽的基座上,使所述镂空处对应于所述沟槽;将该平板对准放置于该晶圆上;以及抽出该沟槽中的气体,使该平板藉一真空吸力固定于该晶圆上。

依据上述构想,晶圆的固定方法中该方法于抽出该沟槽中的气体后,还包含一步骤:除去真空使气体回流至所述沟槽中,以移除平板与晶圆间的真空吸力。

依据上述构想,晶圆的固定方法中所述沟槽经抽气后,其压力系较周围环境低50~200mmHg。

依据上述构想,晶圆的固定方法中该基座还包含数个沟槽,每一沟槽均具有一独立开口,因此每一沟槽可独立抽气,因应平板强度的不同,该数个沟槽经抽气后,于不同的沟槽系具有不同的真空度。

根据本发明的第三目的,其构想在提供一种粘合喷墨头喷孔片的方法,此喷墨头包含一用以喷射墨水的喷孔片,以及用以控制该墨水射出的数个晶片,所述每个晶片上具一镂空处,用以盛装墨水,其步骤系包含:将该晶片置于一具一沟槽的基座上,使该镂空处对应于该沟槽;于该晶片上涂布一粘着层;将该喷孔片对准放置于晶片上;抽出沟槽中的气体,使喷孔片藉一真空吸力固定于晶片上;加热粘着层,使粘着层粘合喷孔片及晶片;以及除去真空使气体回流至沟槽中,以移除喷孔片与晶片间的真空吸力。

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