[发明专利]电子显示器件的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置

权利要求书

1．一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置，包括：

一个框架；

安装在所述框架上的多个特写光传感器，用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号；和

安装在所述框架上位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器，所述广角光传感器用于感测和产生与所述电子显示器件上显示的所述大面积图像对应的图像信号。

2．根据权利要求1所述的测试定位装置，其中所述广角光传感器具有包括所述小面积的视野。

3．根据权利要求2所述的测试定位装置，其中所述多个广角光传感器具有重叠视野，以感测和产生与所述电子显示器件上显示的整个图像大致对应的图像信号。

4．根据权利要求3所述的测试定位装置，其中所述特写光传感器放置在所述框架上，以便在所述重叠视野之外。

5．根据权利要求4所述的测试定位装置，其中所述特写光传感器包括多排光传感器，所述光传感器在朝向所述电子显示器件的方向倾斜。

6．根据权利要求5所述的测试定位装置，进一步包括至少一行居中的中排光传感器。

7．根据权利要求6所述的测试定位装置，其中所述中排光传感器包括一个可垂直移动的中央光传感器，所述中央光传感器放置在所述框架上，以使其视野包括所述图像的中心。

8．根据权利要求7所述的测试定位装置，其中所述中央光传感器作为中枢地安装在所述框架上。

9．根据权利要求8所述的测试定位装置，其中所述中央光传感器作为中枢地安装在一个悬臂上。

10．根据权利要求5所述的测试定位装置，其中所述光传感器行被支撑在安装在所述框架上的倾斜轨道上，可垂直调节所述轨道。

11．根据权利要求10所述的测试定位装置，其中所述行中的光传感器可沿所述的相应倾斜轨道横向移动。

12．根据权利要求11所述的测试定位装置，其中所述行中的光传感器包括传动装置，以便沿所述轨道横向移动所述光传感器。

13．根据权利要求1所述的测试定位装置，进一步包括至少一个安装在所述框架上的摆频信号发生器，用于产生交变磁场以偏转所述电子显示器件中的电子束。

14．根据权利要求13所述的测试定位装置，其中所述至少一个摆频信号发生器包括至少一对安装在框架上的隔开的线圈，可激励该对线圈以产生所述交变磁场，所述交变磁场通常包围整个电子显示器件。

15．根据权利要求14所述的测试定位装置，其中所述至少一个摆频信号发生器包括一对垂直隔开的、大致水平的线圈和一对横向隔开的、大致垂直的线圈，可激励所述两对线圈中的每一对线圈，以产生所述交变磁场。

16．一种用于电子显示器件的测试和对准系统，包括：

一个连接到一个电子显示器件的测试图案发生器，用于使所述电子显示器件在所述电子显示器件上产生视频测试图案的图像；

一个包括支撑多个特写光传感器和位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器的框架的测试定位装置，多个特写光传感器感测和产生与所述电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号，广角光传感器感测和产生与所述电子显示器件上显示的大面积图像对应的图像信号；

一台控制所述测试图案发生器并处理所述图像信号以便对所述电子显示器件进行一系列测试的计算机；和

一个对所述系列测试的结果提供可视指示的显示器。

17．根据权利要求16所述的测试和对准系统，其中所述广角光传感器具有包括所述小面积的视野。

18．根据权利要求17所述的测试和对准系统，其中所述多个广角光传感器具有重叠视野，以感测和产生与所述电子显示器件上显示的整个图像大致对应的图像信号。

19．根据权利要求18所述的测试和对准系统，其中所述特写光传感器放置在所述框架上，以便在所述重叠视野之外。

20．根据权利要求19所述的测试和对准系统，其中所述特写光传感器包括多排光传感器，所述光传感器在朝向所述电子显示器件的方向倾斜。