[发明专利]电子显示器件的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置

说明书

本发明涉及测试系统，特别是电子显示器件的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置。

在象例如用于计算机监视器和电视机的阴极射线管(CRT)组件这样的电子显示器件的制造和组装过程中，需要进行准确的机械、光学和电子调节，以确保电子显示器件提供最佳的重现图像质量。这些调节包括但不限于：聚焦、彩色纯度、电子束会聚、彩色均匀性、几何图形、和亮度。这些调节内容中的每一项通常是由训练有素的技术人员借助测试和对准系统相互独立进行的。遗憾的是，由于许多测试和对准系统不能进行准确对准CRT组件所需的所有测试，测试很慢并且不能为工作人员的调节提供实时反馈，测试不够准确并且不能以最佳顺序合为一体地执行每项测试，然后根据需要重新检验和重新调节测量结果，因此这些测试和对准系统是有缺陷的。

为了解决上述问题，已经开发了用于电子显示器件的改进测试和对准系统。例如，1995年12月21日公开并授权给本发明受让人的图像处理系统公司(Image ProcessingSystem Inc.)的PCT申请序列No.PCT/CA95/00352公开了一种用于电子显示器件的测试和对准系统。该系统包括安装在一个框架上并排列成一个阵列的多个彩色CCD摄像机。可垂直调节阵列中CCD摄像机的行，并可横向调节每行中的CCD摄像机，以使该系统测试和对准不同尺寸的电子显示器件。CCD摄像机的图像输出传送到一台计算机进行处理。计算机控制连接到正在测试的电子显示器件的测试图案发生器，以使电子显示器件显示由CCD摄像机捕获的图像的适当测试图案。一个摆频信号发生器(wobulator)安装在框架上并可在与电子显示器件相邻的可操作位置和CCD摄像机视野之外的收回位置之间移动。可激励摆频信号发生器以便在可操作位置时偏转电子显示器件内的电子束。同样安装在框架上的光电二极管随着摆频信号发生器偏转其中的电子束来测量电子显示器件的亮度并向用于处理的计算机提供输入。

在显示测试图案时，计算机根据CCD摄像机的图像输出和光电二极管的输出对电子显示器件进行一系列综合的测试和对准功能。该测试和对准功能包括彩色纯度、聚焦、静态和动态会聚、偏转线圈转动、正交性、视频图案尺寸和定中心、光栅尺寸和定中心、线性、几何图形和亮度测量结果，这些测试和对准全部在一个单独的操作台中进行，在这一系列的测试和对准功能过程中，计算机显示工作人员使用的图形指示器，以确定该电子显示器件是测试合格还是测试不合格。

1992年11月11日公开并授权给三星电子公司的英国专利申请No.2,255,700公开了一种用于测量阴极射线管(CRT)特性的系统。该系统包括一个摄像机、一个选择器、一个视频处理器、一个监视器、一个磁场控制器、一个CPU和一个输出单元。摄像机包括一个CCD摄像机阵列以及多个磁场线圈，磁场控制器在CPU的控制下激励磁场线圈以便移动CRT中的电子束。CCD摄像机的图像输出传送到CPU进行处理。在一个实施例中，CCD摄像机可移动地安装在一个支架上，以便在检验中可相对CRT调节CCD摄像机的位置。

虽然上述参考文献给出包括在检验中可相对电子显示器件移动的多个CCD摄像机并允许测量电子显示器件的至少一个特性的用于电子显示器件的测试和对准系统，仍在继续寻找用于测试和对准电子显示器件的改进系统。

因此，本发明的一个目的是提供一种用于电子显示器件的新的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置。

根据本发明的一个方面，提供一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置，包括：

一个框架；

安装在所述框架上的多个特写光传感器，用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号；和

安装在所述框架上位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器，所述广角光传感器用于感测和产生与所述电子显示器件上显示的所述大面积图像对应的图像信号。

广角光传感器最好具有包括小面积显示图像并重叠的视野，以便广角光传感器感测和产生与电子显示器件上显示的整个图像大致对应的图像信号。同样，特写光传感器最好放置在框架上面，以便在广角光传感器的重叠视野之外。

在一个实施例中，特写光传感器排成阵列，阵列中特写光传感器的行安装在可垂直调节的倾斜轨道上。每行中的光传感器也可沿轨道横向移动，以便允许调节光传感器的位置容纳不同尺寸的电子显示器件。该阵列最好包括安装在从框架伸出的悬臂上、位于中央的可垂直调节的特写光传感器。