[发明专利]球点阵半导体器件外壳及其制造工艺无效
申请号: | 98100928.X | 申请日: | 1998-03-19 |
公开(公告)号: | CN1194458A | 公开(公告)日: | 1998-09-30 |
发明(设计)人: | 金溶演;柳在喆 | 申请(专利权)人: | 三星航空产业株式会社 |
主分类号: | H01L23/02 | 分类号: | H01L23/02;H01L23/48;H01L21/60 |
代理公司: | 中科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 刘晓峰 |
地址: | 韩国庆尚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 点阵 半导体器件 外壳 及其 制造 工艺 | ||
本发明涉及球点阵半导体器件外壳及其制造工艺。
半导体芯片由半导体器件外壳中的引线框支撑,由引线框上的引线将它连接到外部电路。特别指出的是,球点阵半导体外壳是通过引线上的焊球连接到外部电路上的。
同时,传统的球点阵半导体外壳上的引线框是用Mitsubishi化学气体有限公司的产品BT树脂(聚合物树脂)制成的,通过刻蚀印刷电路板的方法制造的,该引线框具有通过导线框的基片内的通孔彼此电连接的上下部分。
然而,用BT树脂制成的传统半导体器件外壳的引线框衬底昂贵、费时,且缺乏电热稳定性。尤其由于芯片或外部器件产生的热量,薄膜型衬底会开裂。
同时,通过半刻蚀方法制造的金属引线框,在制作精细槽时留有一预先设定的不腐蚀部分。但是,用半刻蚀方法很难在厚的材料上制造细槽。由于过度刻蚀会引起尺寸不稳定,刻蚀后产生的应力会产生变形。
为了解决以上问题,本发明的目的是提供一种具有电热可靠性,变形小,加工简单,测量稳定的球点阵半导体器件外壳及其制造方法。
相应地,为达到本发明的目的,包括通过焊线与半导体芯片相连的导线的球点阵半导体器件外壳,包括每根引线上的导电印剂部分,及用来连接外部衬底端子的附着在导电印剂上的焊球。
另外,制造球点阵半导体器件外壳方法包括的步骤为:(a)将导电印剂涂敷在引线上,(b)将半导体芯片的极端焊到引线上,并用树脂包裹该焊接结构,(c)将导电印剂连接到与外部衬底相连的焊球上。
参考附带的示意图,本发明以上的目的和优点在实施例的详细描述中将变得更加明确。
图1为根据本发明用在球点阵半导体器件外壳上的引线框平面图;
图2为图1中‘A’部分的平面图;
图3为图2中‘B’部分的截面图;
图4为涂有导电印剂的引线框的截面图;
图5为模制的半导体器件外壳截面图;
图6为具有不均匀厚度导电印剂的半导体器件外壳的截面图;
图7为具有缩压树脂表面的平整的半导体器件外壳的截面示意图。
图8为应用焊球的半导体器件外壳截面示意图;
图9为图8中焊球排列的底视图。
根据本发明,用在球点阵半导体器件外壳上的引线框20如图1中所示由一个固定芯片的基座21,和连接半导体芯片的端子的引线22组成,该引线被连接到外部接线端。
引线框20是用化学刻蚀或机械印模法制做的。制做引线框20的材料是如铜,铜合金或Ni-Fe合金等金属。
参考图2,绝缘带24贴在引线框20的引线22的上表面,以加固引线22并使引线间保持一定间距。
在每根引线22涂一部分导电印剂25,导电印剂制造用铜、金、钯、铑或其合金。
参考图3,引线22上的导电印剂25的截面呈椭圆状。导电印剂25可用各种方法涂在引线的上表面,如丝屏印刷法或利用金属模板,注射,扩散或布点的方法。
假定用以上方法涂敷的导电印剂25具有类似于图4中所示的呈矩形的截面,再通过压印弄平。此时,导电印剂25的高度应等于或高于绝缘带24。
为防止导电印剂25在压印过程中变形或开裂,在压印之前,应预先对导电印剂25进行干燥。为防止压印后印剂变形,也要进行后处理。
压印导电印剂25后,用胶带26将半导体芯片30固定在基座21的上表面,如图5所示。
用金线27将半导体芯片30的极端连接到引线22上。
然后用模制树脂29将引线框包裹进去,去掉伸出模制树脂部分的引线22。此时,导电印剂25的一个面曝露在模制树脂29外。
这里,如图6所示,若导电印剂25的高度不均匀,某些导电印剂25将不能暴露在外,焊球28将无法与之电连接。这样,如图7所示,为了使导电印剂从模制树脂层的底面露出,需要打磨模制树脂底层。
焊球28可焊到露在模制树脂29外的导电印剂25的表面上。焊球28通过与半导体芯片30和导电印剂线连接的导线与外部设备的连接端相连。
这样,在半导体器件外壳中,焊球按行排列,从而如图9中所示,相隔的各行是相同的,由此可以与安装在很小区域中的各种连接端相连。
根据本发明的半导体器件外壳,导电印剂涂在引线框上,以使尺寸稳定,减化工艺,降低成本。
应该理解,本发明不局限于这个实施例的内容,由本领域中的技术员所做的改变或变化也包括在本发明中。
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