[发明专利]电路及测试方法

权利要求书

1.一种具有多个输入单元及用于测试所述输入单元工作正确与否的测试电路的电路，

所述电路的特点在于：

在所述电路测试期间，所述输入单元相继接收第一信号的第一图案和第二图案，所述图案使所述输入单元接收在第一阈值和在第二阈值的第一信号，因此当施加所述图案之一时，正常的输入工作单元提供具有相同逻辑状态的第二信号；

在所述测试电路中，控制电路相继给第一逻辑提供第一控制信号，给第二逻辑提供第二控制信号；以及

使所述的多个所述第二信号与所述第一逻辑和所述第二逻辑相关，并且来自于工作不正确的输入单元的任何第二信号都改变所述第一控制信号或所述第二控制信号，因此至少具有一个工作不正常的输入单元的电路被检测出来。

2.权利要求1所述的电路，其中仅在测试期间所述控制电路才提供所述第一控制信号和所述第二控制信号，否则使所述第一控制信号和所述第二控制信号浮动，这样所述第一逻辑和所述第二逻辑仅在测试期间才消耗功率。

3.权利要求1所述的电路，所述控制电路具有第一参考端和第二参考端，所述控制电路以第一种类型的第一晶体管和第二种类型的第一晶体管为特征，每个晶体管都有第一电流电极、第二电流电极及控制电极，所述的第二种类型的第一晶体管的第一电流电极连接到第一线，第二电流电极连接到所述的第二参考端，其控制电极接收电平选择信号，所述的第一种类型的第一晶体管的第一电流电极连接到第二线，第二电流电极连接到所述第一参考端，其控制电极接收所述电平选择信号；所述控制电路响应所述电平选择信号把所述第二线改变成拉到所述第一参考端，因而提供第一逻辑状态的第二控制信号，还把所述第一线拉到所述第二参考端，因而提供第二逻辑状态的所述第一控制信号。

4.权利要求1所述的电路，其特征在于第一种类型的第一和第三晶体管和第二种类型的第一和第三晶体管，所述的晶体管具有第一电流电极、第二电流电极和控制电极；

所述的第一种类型晶体管在第二线和第一参考端之间第一电流电极和第二电流电极串联连接，所述的第二种类型晶体管在第一线和第二参考端之间第一电流电极和第二电流电极串联连接；

响应于施加到所述第三晶体管的控制电极上的测试使能信号，所述第三晶体管同时导通或同时不导通；

所述第一晶体管的控制电极接收电平选择信号，以把所述第一线或所述第二线分别改变成拉到所述第二参考端或所述第一参考端，因而分别提供所述第二控制信号或第一控制信号。

5.权利要求1所述的电路，其特征在于第一种类型的第四晶体管和第二种类型的第四晶体管，所述的晶体管具有第一电流电极、第二电流电极和控制电极；所述的第一种类型的第四晶体管的第一和第二电流电极连接在第一线和第一参考端之间，所述的第二种类型的第四晶体管的第一和第二电流电极连接在第二线和第二参考端之间；当不要求测试时，响应于施加到它们的控制电极的测试使能信号，所述的第四晶体管把所述第一线和第二线拉到所述第一参考端或拉到所述第二参考端。

6.一种用于测试电路的多个输入单元是否都能正确地把第一电平和第二电平的第一信号传送到第二信号的方法，所述的方法的特征在于任意次序的以下步骤：

施加第一图案到所述输入单元，所述第一图案具有所述第一电平或所述第二电平中的任意一个的第一信号，并给第一逻辑提供第一控制信号；所述第一逻辑控制从所述输入单元来的所述第二信号，其中任何来自于工作不正确的输入单元的任何第二信号都使所述第一控制信号翻转；以及施加第二图案到所述输入单元，所述第二图案具有与在施加第一图案的步骤中所施加的电平相反的电平的信号，并给第二逻辑提供第二控制信号，它控制从所述输入单元来的所述第二信号，其中任何来自于不正确的输入工作单元的第二信号都使所述第二控制信号翻转；因此当两个控制信号都维持不翻转时提供正的测试结果，当至少有一个所述的控制信号翻转时提供负的测试结果。

7.权利要求6所述的测试方法，其中在所述的第一电平的所述第一信号在所述第一电平的第一阈值，及在所述第二电平的第一信号在所述第二电平的第二阈值。

8.权利要求6所述的测试方法，其中在所述的第一电平的所述第一信号具有约为2v的电压，在所述第二电平的所述第一信号具有约为0.8v的电压。