[发明专利]具有检测振荡信号的占空因数的机内测试电路的振荡电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种振荡电路，特别是涉及一种具有机内测试电路的振荡电路。

背景技术

附图的图1示出了一种C-R振荡器的一般例子。现有技术的C-R振荡器被连接到一个LSI(大规模集成电路)测试器上，所述LSI测试器被用于诊断所述现有技术的C-R振荡器是否出现故障。所述LSI测试器具有一个继电器单元2和一个在输入结点4和输出结点5之间串联连接的电阻器3。控制信号CTL1被提供给继电器单元2，并根据所述控制信号CTL1的电平在闭合状态和打开状态之间改变继电器单元2。图中所示的继电器单元2处于闭合状态，和现有技术的C-R振荡器处于振荡状态。

现有技术的C-R振荡器大致具有两个反相器1a/1b、一个用于反相器1a的驱动器1c、一个斯密特触发器电路1d、一个延时电路1e和一个电容器1f。当继电器单元2处于闭合状态时，电容器1f和电阻器3相互结合形成一个C-R电路，该C-R电路确定时钟信号CLK1的振荡频率。反相器1a/1b以所述的振荡频率将时钟信号CLK1提供给所述LSI测试器。

反相器1a是p-沟道增强型场效应管Qp1和n-沟道增强型场效应管Qn1的串联组合而成，所述串联组合被连接在正电源线VDD和地线GND之间。公共漏节点N1被连接到输入节点4，驱动器1c使P-沟道增强型场效应晶体管Qp1和n-沟道增强型场效应晶体管Qn1将正电源线VDD和地线GND交替连接到输入节点4上。

反相器1b同样是连接在正电源线VDD和地线GND之间的P-沟道增强型场效应管Qp2和n-沟道型场效应管Qn2的串联组合。公共漏节点N2被连接到输出节点5，史密特触发器电路1d使n-沟道型场效应管Qn2和p-沟道型场效应管Qp2将正电源线VDD和地线GND经过公共漏节点N2交替连接到输出节点5上。

斯密特触发器电路1d具有连接到输入节点4的一个输入节点和连接到驱动器1c的一个输出节点，并根据时钟信号CLK1产生一个脉冲信号PLS1。斯密特触发器电路1d将脉冲信号PLS1提供给驱动器1c。延时电路1e具有与之串联的反相器1g/1h/1j。输出节点4被连接到反相器1g的输入节点，反相器1j的输出节点被连接到驱动器1c。延时电路1e根据时钟信号CLK1产生一个延迟信号DLY1，并将该信号提供给驱动器1c。

或门1k和与门1m共同细成驱动器1c。脉冲信号PLS1被提供给或门1k的一个输入节点和与门1m的一个输入节点，延迟信号DLY1被提供给或门1k的另一个输入节点和与门1m的另一个输入节点。或门1k的输出节点被连接到P-沟道增强型场效应管Qp1的栅极，与门1m的输出节点被连接到n-沟道增强型场效应管Qn1的栅极。

时钟信号CLK1被从输出节点5提供给形成所述LSI测试器一部分的比较器(未示出)。时钟信号CLK1在定时T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7、T8、…(见图2)处被周期采样，每个采样定时处的电平与所述LSI测试器中的正高电平和地电平作比较，以判断所述时钟CLK1是否正确地具有所述高电平和低电平。

现在假设现有技术的振荡器被设计成实现0.5的占空因数，所述LSI测试器检查采样定时T1-T8处的电平，以判断现有技术的振荡器是否在采样定时T1-T8的任何一个处从高到低改变时钟信号CLK1的电平。当时钟信号CLK1具有由曲线C1或C2指出的波形时，所述占空因数大约为0.5，所述时钟信号CLK1是正常的。所述诊断是正确的。如果时钟信号CLK1具有曲线C3或C4所示的波形，所述占空因数在数值上比0.5或者小得多或者大得多，所述LSI测试器必须诊断时钟信号CLK1是否正常。但是，由曲线C3指出的电平从采样定时T1处的低电平变成在采样定时T2处的高电平，由曲线C4指出的电平从采样定时T3处的高电平变成在采样定时T4处的低电平。由此，所述LSI错误地将时钟信号CLK1诊断为正常。换言之，输出信号CLK1只允许所述LSI测试器确定现有技术C-R振荡器是否振荡。如果所述制造者改做所述LSI测试器以检查所述时钟信号CLK1，以便确定现有技术的C-R振荡器是否将所述占空因数调节到一个目标值，那么，这种改做工作需要消耗大量的时间和实验，并增加现有技术C-R振荡器的诊断成本。因此，就需要在现有技术C-R振荡器的可靠性和它的诊断成本之间进行取舍。

发明内容