[实用新型]集成电路测试夹无效
| 申请号： | 98201768.5 | 申请日： | 1998-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN2317484Y | 公开（公告）日： | 1999-05-05 |
| 发明（设计）人： | 韩熔 | 申请（专利权）人： | 韩熔 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市专利事务所 | 代理人： | 张卫华 |
| 地址： | 100080 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 | ||
【权利要求书】：
1．一种集成电路测试夹，包括矩形柱体、两夹片、弹簧和插针，两夹片位于矩形柱体的两侧，两夹片的下部分别与矩形柱体铰接，两夹片的上部与矩形柱体间夹设弹簧，两夹片的底端与矩形柱体的底端围成矩形槽，插针竖向穿置于两夹片及矩形柱体的两个非夹合面中，插针的底端露于矩形槽的四个内壁且与槽口齐平，插针的顶端突出夹片及矩形柱体的上端面，其特征在于：
所述夹片和矩形柱体的顶端均连接转接板，所述转接板上装有接插件；
所述插针的顶端与所述接插件电连接。
2．如权利要求1所述的集成电路测试夹，其特征在于：所述转接板为印刷线路板。
3．如权利要求1或2所述的集成电路测试夹，其特征在于：所述接插件为双列直插型插头、圆型插头、D型插头之一。
4．如权利要求1或2所述的集成电路测试夹，其特征在于：所述接插件为双列直插型插座、圆型插座、D型插座之一。
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