[实用新型]集成电路测试夹

说明书

本实用新型涉及一种集成电路测试夹。

集成电路测试夹用于延伸集成电路的各管脚，以便对集成电路进行测试。

目前的集成电路测试夹(如美国3M公司的PLCC牌测试夹)是由矩形柱体、两夹片、弹簧和插针构成的，两夹片位于矩形柱体的两侧，两夹片的下部分别与矩形柱体铰接，两夹片的上部与矩形柱体间夹设弹簧，两夹片的底端与矩形柱体的底端围成矩形槽，插针竖向穿置于两夹片及矩形柱体的两个非夹合面中，插针底端露于矩形槽的四个内壁且与槽口齐平，插针顶端突出夹片及矩形柱体的上端面。由于测试夹的外形呈上大下小状，使得测试夹的底端插针较密，为了便于测试时与插针连接，夹片和柱体的顶端均为台阶形。

使用时，将测试夹的矩形槽夹套在被测芯片上，在弹簧的作用下，各插针的底端与被测芯片的各管脚紧密接触，从而将被测芯片的各管脚延伸至插针顶端。

实践中发现这种测试夹还存在下述缺陷：由于测试夹的顶端为台阶形，无法与现有接插件直接转接，为了与插针连接，只能在插针顶端焊接引线或用线夹来夹持插针，不仅连接不可靠，而且使用极不方便。

鉴于上述，本实用新型的目的是提供一种转接方便的集成电路测试夹。

为实现上述目的，本实用新型采用以下设计方案：

一种集成电路测试夹，包括矩形柱体、两夹片、弹簧和插针，两夹片位于矩形柱体的两侧，两夹片的下部分别与矩形柱体铰接，两夹片的上部与矩形柱体间夹设弹簧，两夹片的底端与矩形柱体的底端围成矩形槽，插针竖向穿置于两夹片及矩形柱体的两个非夹合面中，插针的底端露于矩形槽的四个内壁且与槽口齐平，插针的顶端突出夹片及矩形柱体的上端面，其特征在于：所述夹片和矩形柱体的顶端均连接转接板，所述转接板上装有接插件；所述插针的顶端与所述接插件电连接。

在本实用新型的其它实施措施中：

所述转接板为印刷线路板。所述接插件为双列直插型插头或插座。

由于本实用新型测试夹的顶端设有带接插件的转接板，因而可用电缆与其连接，不仅连接可靠而且插拔也很方便。

下面结合附图和实施例对本实用新型作详细说明。

图1是本实用新型结构示意图；

图2是图1的俯视图。

请参见附图。实用新型由矩形柱体1、两夹片2、弹簧3、插针4、转接板5和接插件6构成，其中：两夹片2位于矩形柱体1的两侧，两夹片2的下部分别与矩形柱体1铰接，两夹片2的上部与矩形柱体1间夹设弹簧3，两夹片2的底端与矩形柱体1的底端围成矩形槽7，插针4竖向穿置于两夹片2及矩形柱体1的两个非夹合面中，插针4的底端露于矩形槽7的四个内壁且与槽口齐平，插针4的顶端突出夹片2及矩形柱体1的上端面，矩形柱体1的顶端和夹片2的顶端均连接转接板5，转接板上装有接插件6，插针4的顶端与接插件电6连接。

转接板5可以为印刷线路板。

接插件6为双列直插型插头或插座，也可为其它类型(如圆型、D型)的插头或插座。

使用时，将测试夹的矩形槽夹套在被测芯片上，在弹簧3的作用下，各插针4的底端与被测芯片的各管脚紧密接触，从而将被测芯片的各管脚延伸至插针4的顶端，并与转接板5上的接插件6电连接，在接插件6上连接带接插件的电缆，便可进行测试。

以上仅为本实用新型的部分实施例，任何基于本实用新型的等同变换，均应在本实用新型的保护范围之内。