[发明专利]直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置

权利要求书

1、一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于该方法的步骤是：

(一)在一测试装置中设定检测时间区间(ΔT)及一待测物的充电电参数极限值，其中该检测时间区间(ΔT)是指在该测试装置提供电压后，检测充电电参数的时间区间，该充电电参数极限值系该待测物对应于所提供的电压，应产生的充电参数的极限值；

(二)测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的充电电参数值；

(三)测试装置将步骤二所检测的充电电参数值与步骤一预设的该充电电参数极限值相比较，以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接，若两者相导接，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，否则，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。

2、根据权利要求1所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于：

所述的步骤一的充电电参数极限值为充电电流下限值(I_d)，所述的检测时间区间(ΔT)是指在所述检测装置提供电压后，检测充电电流的时间区间，该充电电流下限值(I_d)是指在该检测时间区间(ΔT)内，所述待测物对应于所提供的电压，应产生的充电电流的最低下限值；

所述的步骤二为测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的电流值(I)；

所述的步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的电流值(I)与步骤一所预设的充电电流下限值(I_d)相比较，若该电流值(I)大于该充电电流下限值(I_d)，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，若该电流值(I)小于该充电电流下限值(I_d)，则该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。

3、根据权利要求1所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于：

所述的步骤一的充电电参数极限值为待测物的绝缘阻抗上限值；

所述的步骤二为测试装置在检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的绝缘阻抗值；

所述的步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的绝缘阻抗值与步骤一所预设的绝缘阻抗上限值相比较，若在检测时间区间(ΔT)内各绝缘阻抗值比该绝缘阻抗上限值小时，则测试装置可继续测试，若无该绝缘阻抗值小于该绝缘阻抗上限值，则判断该待测物与测试装置不导接，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。

4、一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于：该检测装置包括一输入装置、一微处理器、一测试电路及一状态显示器；所述的输入装置、状态显示器与微处理器相连接；所述的测试电路由一可编程高压产生器、一模数转换器及一量测电路组成，其中，该可编程高压产生器的输入端与微处理器的输出端相连接，该模数转换器的输入端与该量测电路的输出端相连接，该模数转换器的输出端与微处理器相连接，且该量测电路设有供待测物导接的测试端；测试信息通过状态显示电路显示。

5、根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于：所述的测试装置还进一步包括一提醒测试者待测物与测试电路处于开路状态的警报电路，其与微处理器的输出端连接。

6、根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于：所述的量测电路可为安培计。

7、根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于：所述的量测电路可为伏特计。

8、根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于：所述的微处理器可为一中央处理单元。

9、根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于：所述的微处理器可为一微控制器。