[发明专利]直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置

说明书

直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置

本发明涉及一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置，特别是指一种能在测试前检测出待测物与测试装置是否正常导接的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置。

目前电子产品的制造日益精良，因此，常有电子产品经直流耐压测试装置检测后，显示其漏电流为零(该漏电流实际只是趋近于零，但因受限于测试装置之精密度，故测试结果显示为零)之情况；或是该电子产品在作绝缘阻抗测试时，经绝缘阻抗测试装置检测后，显示其绝缘阻抗为无穷大(该绝缘阻抗实际只是趋近于无穷大，但因受限于测试装置之精密度，故测试结果显示为无穷大)。所以，当测试者在测试过程中，若因一时疏忽而未将待测物与测试装置正常导接，或因其它原因令二者无法正常导接时，测试者常会因测试装置显示其漏电流为零，而错误地判定该等待测物符合安全标准，进而造成日后无法预想的隐患。

由于一般负载待测物均具有大小不等的容抗值，而具有容抗值的负载物在施加一测试电压后，均会产生一充电电流。根据此现象，本发明的目的就在于提供一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其可令测试装置在设定的时间内通过检测待测物的充电电流，进而判断该待测物与测试装置的开路状态，以确保后续检测结果的正确性。

本发明的另一目的在于根据本发明方法提供一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，当待测物与该测试装置处于开路状态时，发出信息并停止后续的测试动作，当待测物与该测试装置妥善导接时，再进行后续的测试动作，以确保通过检测产品的安全性。

本发明一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于该方法的步骤是：

(一)在一测试装置中设定检测时间区间(ΔT)及一待测物的充电电参数极限值，其中该检测时间区间(ΔT)是指在该测试装置提供电压后，检测充电电参数的时间区间，该充电电参数极限值系该待测物对应于所提供的电压，应产生的充电参数的极限值；

(二)测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的充电电参数值；

(三)测试装置将步骤二所检测的充电电参数值与步骤一预设的该充电电参数极限值相比较，以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接，若两者相导接，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，否则，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。

上述的方法中，步骤一的充电电参数极限值可为充电电流下限值(I_d)，所述的检测时间区间(ΔT)是指在所述检测装置提供电压后，检测充电电流的时间区间，该充电电流下限值(I_d)是指在该检测时间区间(ΔT)内，所述待测物对应于所提供的电压，应产生的充电电流的最低下限值；

步骤二为测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的电流值(I)；

步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的电流值(I)与步骤一所预设的充电电流下限值(I_d)相比较，若该电流值(I)大于该充电电流下限值(I_d)，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，若该电流值(I)小于该充电电流下限值(I_d)，则该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。

上述的方法中，步骤一的充电电参数极限值为待测物的绝缘阻抗上限值；

步骤二为测试装置在检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的绝缘阻抗值；

步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的绝缘阻抗值与步骤一所预设的绝缘阻抗上限值相比较，若在检测时间区间(ΔT)内各绝缘阻抗值比该绝缘阻抗上限值小时，则测试装置可继续测试，若无该绝缘阻抗值小于该绝缘阻抗上限值，则判断该待测物与测试装置不导接，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。