[发明专利]用于校准模拟传感器测量结果的方法和装置

权利要求书

1.一种方法包含：

生成模拟传感器的测量结果；

从存储设备至少读取确定曲线的两个数值；以及

使用模拟传感器的测量结果和确定曲线的数值计算被校准的结果。

2.权利要求1的方法，其中从存储设备读取至少两个数值的步骤包括读取确定直线的第一个数值和第二个数值的步骤，第一个数值表示直线的斜率而第二个数值表示直线的截矩。

3.权利要求2的方法，其中计算被校准的结果的步骤包括根据公式y＝mx+b使用直线的斜率和截矩生成被校准的结果的步骤，其中m表示斜率，b表示截矩，x表示模拟传感器的测量结果，而y表示被校准的结果。

4.权利要求3的方法，其中计算被校准结果的步骤包括将斜率和截矩传送到处理器并在处理器内计算被校准结果的步骤。

5.权利要求1的方法，其中从存储设备至少读取两个数值的步骤包括从电可擦可编程只读存储设备读取数值的步骤。

6.权利要求1的方法，其中生成模拟传感器测量结果的步骤包括完成温度测量的步骤。

7.权利要求1的方法，其中生成模拟传感器测量结果的步骤包括完成电压测量的步骤。

8.方法包含：

在制造期间完成至少两个被校准的测量；

在存储设备中至少存储对应于被校准测量结果的确定曲线的两个数值；

生成模拟传感器的测量结果；以及

使用模拟传感器的测量结果和确定曲线的数值来计算被校准的结果。

9.权利要求8的方法，其中存储至少两个确定曲线的数值的步骤包括存储确定直线的第一个数值和第二个数值的步骤，第一个数值表示直线的斜率，而第二个数值表示直线的截矩。

10.权利要求9的方法，其中计算被校准结果的步骤包括根据公式y＝mx+b使用直线的斜率和截矩生成被校准结果的步骤，其中m表示斜率，b表示截矩，x表示模拟传感器的测量结果，而y表示被校准的结果。

11.权利要求10的方法，其中计算被校准结果的步骤包括将斜率和截矩传送到处理器并在处理器内计算被校准结果的步骤。

12.权利要求8的方法，其中存储至少两个确定曲线的数值的步骤包括在电可擦可编程只读存储设备中存储确定曲线的数值的步骤。

13.权利要求8的方法，其中生成模拟传感器测量结果的步骤包括完成温度测量的步骤。

14.权利要求8的方法，其中生成模拟传感器测量结果的步骤包括完成电压测量的步骤。

15.计算机系统包括：

连接到总线的传感器，该传感器提供对应于模拟传感器测量的测量值；

连接到总线的存储设备，该存储设备存储至少两个确定曲线的数值；以及

连接到总线的运算器，该运算器接收数字的测量数值并确定曲线的数值，该运算器进一步使用测量值和确定曲线的数值生成被校准的传感器测量结果。

16.权利要求15的计算机系统，其中存储设备包括可擦可编程只读存储设备。

17.权利要求15的计算机系统，其中传感器包括温度传感器。

18.权利要求15的计算机系统，其中传感器包括电压传感器。

19.权利要求15的计算机系统，其中运算器被包括在处理器内。

20.权利要求15的计算机系统，其中确定曲线的数值确定直线，确定直线的数值包括确定直线斜率的第一个数值和确定直线截矩的第二个数值，并且其中运算器根据公式y＝mx+b生成被校准的传感器测量结果，其中y表示被校准的传感器测量结果，m表示直线的斜率，x表示传感器的测量值，而b表示直线的截矩。

21.一种装置包含：

至少两个存储确定曲线的数值的非易失性存储单元；

一个用于接收传感器的测量值的输入端；

计算电路使用确定曲线的数值和传感器的测量数值去计算被校准的测量结果。

22.权利要求21的装置，其中确定曲线的数值包括确定直线斜率的第一个数值和确定直线截矩的第二个数值。