[发明专利]用于校准模拟传感器测量结果的方法和装置

说明书

                         发明领域

本发明与模拟传感器的领域有关。更具体而言，本发明与校准模拟传感器测量结果的领域有关。

                         发明背景

模拟传感器在计算机系统内可完成各种各样的功能，包括读取电压电平和温度。电压传感器可测量在整个计算机系统中的电源电压或其他的电压电平。温度传感器可测量系统组件的温度，或可测量环境温度。每当电压或温度传感器在使用中，任何测量的准确性总是有待解决的。传感器的设计者使用精心制成的和昂贵的电路以保证传感器测量的准确性。然而，当传感器被投入使用时，在传感设备制造过程中的变更会导致不准确的结果。

为了防止不准确的测量，传感设备被检验以便保证所制造的设备使用到技术要求内。如果特定的设备性能不符合技术要求，为了使设备的性能到可接受的范围内，设备或是被废弃或是进行电路“修整”。电路“修整”是通过在检验后有形地变更设备的电路或组件被完成。用于修整模拟设备的一种技术是使用激光器去变更电路组件的实际尺寸。一旦变更被完成，为了保证恰当的设备性能设备必须重新被检验。

对未通过检验的设备废弃或进行修整两项操作都起到增加生产准确传感设备价格的作用。

                          发明概述

用于在计算机系统内校准模拟传感器测量结果的方法被公开。该方法包括生成模拟传感器的测量结果，从存储设备至少读取确定曲线的两个数值，以及使用模拟传感器测量结果和确定曲线的数值计算被校准的结果。

本发明的其他性能和优点从附图和从以下的详细描述将明显地看出。

                          附图简述

本发明通过实例而不受在附图中图形的限制被说明，在附图中相同的标记指明相同的元件，并且其中：

图1展示用于校准模拟传感器测量结果的方法的一种实施例的流程图。

图2描绘通过两个传感器测量的数据点所确定的直线的图形。

图3是包括非易失性存储设备的计算机系统的一种实施例的方块图，该存储设备包括曲线确定存储单元。

图4是校准设备的一种实施例的方块图。

                     详细描述

用于校准模拟传感器测量结果的方法的一种实施例包括生成模拟传感器的测量结果，该结果未对照绝对标度例如在温度测量情况下的摄氏温标被校准。可能不准确的模拟传感器的测量结果通过完成包括存储在非易失性存储器中的两个数值计算被校准到绝对标度。存储在非易失性存储器的数值确定直线，用一个数值表示直线的斜率而另一个数值表示截矩。计算是根据公式y＝m*x+b被完成的，其中y表示被校准的结果，m表示斜率，x表示模拟传感器的测量结果，而b表示截矩。实施例预期的优点是使用系统的运算器(ALU)的资源生成准确的传感器测量结果。实施例的进一步的预期优点是为了生成可接受地准确的测量结果消除对修整模拟传感器设备的需要。实施例的另一个预期的优点是通过消除用于先前传感器设备为生成可接受的被校准的结果所要求的昂贵电路的需要而降低生产传感器设备的价格。另外，实施例的预期优点是降低传感器设备的数目，它们是由于设备不能生成足够准确的结果而在制造和检测过程期间必须被废弃的。实施例额外的预期优点是在组装系统插件板时减少了计算机系统制造者对匹配的组件的需要。

图1展示用于校准模拟传感器测量结果的方法的一种实施例的流程图。在步骤110，模拟传感器的测量结果被生成。模拟传感器测量可包括温度测量或电压测量。其他类型的测量也是可能的。

在步骤120，确定曲线的数值从存储设备中被读取。确定曲线的数值最好表示确定直线的斜率和截矩。在计算机系统制造过程中斜率和截矩值被确定。在制造的过程中，至少两种标准传感器测量被完成。来自标准测量的结果对照被校准的标度，例如在温度测量的情况下的摄氏温标进行比较。标准测量被用于确定关于直线的公式，它将使可能不准确的系统内模拟传感器测量结果能够转变为被校准的测量结果。虽然被提到的曲线最好是直线，但其他的曲线类型也是可能的。

在步骤130，被校准的结果使用模拟传感器的测量结果和确定曲线的数值被计算。如上面所讨论的，曲线最好是由斜率和截矩确定的直线，在制造过程中斜率和截矩通过完成两个标准测量被确定。在直线的情况下，计算根据公式u＝m*x+b被完成，其中y表示被校准的结果，m表示斜率，x表示模拟传感器的测量结果，而b表示截矩。