[发明专利]含有宏的半导体器件及其测试方法无效
| 申请号： | 00109029.1 | 申请日： | 2000-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN1276533A | 公开（公告）日： | 2000-12-13 |
| 发明（设计）人： | 大塚重和 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 穆德骏,方挺 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明所述的一种半导体器件包括一公共总线(5)以及多个由连接(L00,L01,…,L33)串联起来的宏(1,2,3),各个宏都由以下部分组成内部电路(11,21,31);缓冲区(12,22,32),它们连接于内部电路的输入端与公共总线之间;寄存器(13,23,33),它们与公共总线相连接;以及逻辑电路(14,24,34),它们用于选择内部电路的输出信号与寄存器的输出信号之一。 | ||
| 搜索关键词： | 含有 半导体器件 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，其特征在于包括：公共总线(5)；以及多个由连接(L00，L01，…，L33)串联起来的宏(1，2，3)，上述各个宏都由以下部分组成：内部电路(11，21，31)；缓冲区(12，22，32)，它们连接于上述内部电路的输入端与上述公共总线之间；寄存器(13，23，33)，它们与上述公共总线相连接；以及逻辑电路(14，24，34)，它们与上述内部电路和上述寄存器相连，用于选择上述内部电路的输出信号与上述寄存器的输出信号之一。
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