[发明专利]随机存储器的自动检测方法及其检测电路无效
| 申请号： | 00115308.0 | 申请日： | 2000-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN1315732A | 公开（公告）日： | 2001-10-03 |
| 发明（设计）人： | 周志坚 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 左一平 |
| 地址： | 518057 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种随机存储器的自动检测方法及其检测电路,其特点是,采用先向随机存储器的所有存储单元写入数据,再读出比较的方法,包括对该随机存储器的数据线测试和地址线测试两个部分,保证了芯片与外部随机存储器RAM的连接和外部随机存储器RAM内部连接无故障。本发明经测试表明,其对大容量随机存储器RAM的检测速度快,故障检出率高,具有很好的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 随机 存储器 自动检测 方法 及其 检测 电路 | ||
【主权项】：
1、随机存储器的自动检测方法，其特征在于，采用先向随机存储器的所有存储单元写入数据，再读出比较的方法，包括对该随机存储器的数据线测试和地址线测试两个部分：(1)对数据线测试的步骤是：a、建立一个可重新配置的测试数据表，用户根据实际需要，将指定数据预先写入在该测试数据表中；b、将测试数据表中的数据写入到随机存储器的各存储单元中；c、进行回读检测；d、将读取值依次与写入值进行比较，如果数据一致，则认为无错误；否则，则认为有误；(2)对地址线测试的步骤是：a、将一组不同的数据，分别写入随机存储器的各存储单元；b、读出该数据，并将其与写入之前的数据进行比较，如果数据一致，则认为无错误；否则，则认为有误。
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